Наведено експериментальні дані щодо зарядки високотемпературних металічних сферичних частинок. Запропоновано модель термоемісійної зарядки, яка грунтується на використанні методу граничної сфери, що враховує обмін зарядом між частинкою та конденсованою дисперсною фазою.

Індекс рубрикатора НБУВ: В378.713

Рубрики:

Електронна емісія

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Предложена методика исследования энергоспектров с помощью вторично-ионного масс-спектрометра, созданного на базе высокодозного ионного имплантера. Использование высокодозного ионного имплантера в качестве источника первичных ионов позволяет работать в широком диапазоне энергий (20 - 150 кэВ). Для анализа вторичных ионов по массам и энергиям использован модернизированный монопольный масс-спектрометр МХ7304А, снабженный малогабаритным фильтром.

Дисертацію присвячено вивченню емісії збуджених частинок під час бомбардування поверхні металів у вакуумі іонами кілоелектроновольтних енергій. Основна ідея роботи - реалізація можливості вимірювання найбільш інформативних, диференціальних характеристик даного явища. Розвинуто новий підхід до дослідження подібних явищ, який дає можливість одержувати вичерпну експериментальну інформацію про потік розпорошених, розсіяних і десорбованих атомів та іонів шляхом розділення цих частинок за векторами швидкостей і електронними станами, в тому числі й нестабільними. Одержано комплекс даних про розподіли за швидкостями збуджених частинок, розпорошених і розсіяних під час іонного бомбардування металів. З'ясовано основні механізми і розроблено квантово-механічну модель явища. Запропоновано високочутливий оптичний метод безеталонного кількісного елементного аналізу поверхні різних матеріалів за допомогою іонних пучків.

  Скачати повний текст

  Скачати повний текст

У борнівському наближенні пораховано кількість електронів провідності, вибитих з металічної плівки падаючими іонами. Взаємодія між іоном та електронами апроксимується екранованим кулонівським потенціалом. Електрони провідності трактуються як ідеальний газ у потенціальній ямі. Враховано затухання електронної хвилі, збудженої іоном всередині кристала, а також її заломлення на поверхні кристала.

Індекс рубрикатора НБУВ: В378.713 + В378.27

Рубрики:

Електронна емісія

Радіаційні ефекти в металах

Шифр НБУВ: Ж25640 Пошук видання у каталогах НБУВ 

В огляді проаналізовано результати досліджень закономірностей і особливостей вторинної іонної емісії у разі бомбардування металевих поверхонь найлегшими іонами та протонами, що мають найнижчі коефіцієнти розпорошення і, отже, спричиняють мінімальну ерозію досліджуваної поверхні. Інтерес до вивчення закономірностей та особливостей протонної мас-спектрометрії зумовлено пошуком нових фізичних можливостей підвищення виходу вторинних іонів з метою поліпшення аналітичних характеристик методу мас-спектрометрії вторинних іонів. Наведено результати порівняльного систематичного дослідження процесів емісії вторинних іонів перехідних металів, бінарних стопів і сполук, що відрізняються електронною структурою, фазовим і стехіометричним складами, у разі бомбардування протонами та іонами Аргону. Достовірно встановлено, що процеси вторинної іонної емісії у разі бомбардування протонами мають основні закономірності, виявлені під час бомбардування іонами інертних газів, у частині залежності від атомового номеру металів і концентраційних співвідношень у бінарних стопах і сполуках, але принципово відрізняються аномально високою ймовірністю іонізації частинок, розпорошених з металевих мішеней. Показано, що у разі бомбардування протонами багатокомпонентних мішеней спостерігається зменшення структурних, фазових та інших матричних ефектів, суттєвих у разі бомбардування іонами інертних газів. Ефекти посилення вторинної іонної емісії під впливом адсорбції та імплантації гідрогену з бомбардувального пучка протонів пов'язано з утворенням поверхневих зв'язків Ме - H і кількісно пояснено в межах моделей, що враховують розрив хімічних зв'язків атомів металу й адсорбату у процесі розпорошення та подальшої іонізацїї розпорошуваних атомів металу.

Описано можливість врахування релятивістської поправки до густини струму польової емісії електронів з металу. Наведено деяке аналітичне узагальнення рівняння Фаулера - Нордгейма з релятивістською поправкою. Релятивістська поправка рівняння Фаулера - Нордгейма надає змогу врахувати вплив релятивізму на польовий емісійний струм. Відзначено, що врахування цієї поправки є необхідним у випадку досить сильних електричних полів і відносно великих міжелектродних відстаней. Слід підкреслити, що ця поправка справедлива для фіксованих міжелектродних відстаней, які зменшуються зі збільшенням напруженості електричного поля. Це означає, що для напруженості електричного поля від 0,1 до 1 ГВ/м відстань між електродами не повинна перевищувати значень від 1 до 0,1 см. В роботі детально розглянуто питання про знаходження хвильової функції електрону. Наведено розрахунки польової емісії електронів. У результаті знайдено коефіцієнт проходження потенціального бар'єру з рівняння Клейна - Гордона в межах наближення Фаулера - Нордгейма. Одержано аналітичний вираз для густини струму поля електронів у випадку міжелектродної відстані менше 1 см. Зроблено висновок, що зазвичай релятивістська поправка не перевищує десятої частини відсотка. Але у випадку польової електронної емісії з пульсарів (де робота виходу та напруженість електричного поля набагато вища) внесок релятивістської поправки становить близько 10 %.