Получены теоретические и практические данные по чувствительности и быстродействию двухэнергетической интроскопической системы с детекторами на основе фотодиодов и сцинтилляторов ZnSe(Te) и CsI(T1); ZnSe(Te) как сцинтиллятора для низкоэнергетических детекторов, а CsI(T1)- для высокоэнергетических детекторов в рентгеновской интроскопии. Приведены характеристики и получаемые изображения контролируемых объектов для двухэнергетической инспекционной системы. Обсуждены способы увеличения пространственного разрешения этих систем, а именно, применение метода геометрической оптики и уменьшение шага детекторов.

Сопоставлены результаты измерения напряжений рентгеновским и механическим методами при одноосном растяжении тонкого образца в специальной приставке дифрактометра. Показано вполне удовлетворительное совпадение результатов тензометрии вышеназванными методами.