Рассмотрен процесс нагрева медного проводника до плазменного состояния при разряде конденсатора. Показано, что энергия нагрева проводника в плазменном состоянии равна энергии электромагнитного поля контура в момент взрыва, а эдс самоиндукции контура может в 20 - 30 раз превышать напряжение на обкладках конденсатора.

Вперше на основі аналізу процесів рекристалізації міді обгрунтовано інтервали значень температур, у яких відбувається зміна мікроструктури матеріалу електричних провідників, що чітко виявляється у повздовжніх шліфах, на яких видно зміну форми кристалів і міжзеренні пошкодження. Це надає змогу зменшити кількість ознак, які свідчать про причетність електричних режимів внутрішніх електромереж до виникнення пожежі. Вперше методом локального рентгеноспектрального аналізу встановлено, що залишковий вміст оксигену в мікроструктурі мідного провідника, який нагрівається електричним струмом, збільшується зі зростанням температури нагрівання, що свідчить про непричетність електромережі до виникнення пожежі. Показано, що охолодження водою нагрітої поверхні мідного провідника внутрішніх електромереж під час гасіння пожежі призводить до зростання вмісту оксигену в матеріалі електричного провідника й утворення тріщин (флокенів), що вказує на вторинність короткого замикання як джерела виникнення пожежі. Удосконалено математичну модель нестаціонарних електротеплових процесів, які відбуваються у внутрішніх електромережах, що надало змогу встановити залежності пожежонебезпечних температур під час нагрівання електричних провідників від різних струмових навантажень.