Приведен метод средневзвешенных оценок диагностических свойств тестов и средство выбора оптимизированного набора тестов, обеспечивающих эффективное тестовое диагностирование запоминающих устройств, что повысит надежность микросхем и модулей памяти на этапе изготовления, а также коэффициент готовности запоминающих устройств на этапе эксплуатации за счет сокращения времени локализации и устранения неисправностей. Для практического применения данного метода использован алгоритм сортировки "пузырьком" средневзвешенных оценок диагностических свойств тестов и разработана программа Optimal-Test, обеспечивающая выбор оптимизированной последовательности тестов, что позволяет увеличить показатель эксплуатационной эффективности системы диагностирования.