Розроблено математичну модель запам'ятовуючого пристрою та засобу діагностування у вигляді модернізованої машини Т'юрінга, що дозволяє скоротити трудомісткість синтезу програм тестів. Розроблено алгоритм і програму оптимізованої послідовності тестів для виконання діагностування пристроїв напівпровідникової пам'яті під час відомих апріорних даних про властивості діагностичних тестів, що дозволить скоротити тривалість діагностування. Розроблено метод вибору тестів за допомогою нечітких правил за алгоритмом Сугено, що дозволить скоротити трудомісткість діагностування запам'ятовуючих пристроїв за рахунок використання досвіду фахівців з технічної діагностики.