Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
Пошуковий запит: (<.>A=Аль Мади М.К.$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
| 1. | Аль Мади М.К. Метод выбора парето-оптимальных тестов для диагностирования запоминающих устройств / Аль Мади М.К., В. А. Андриенко, В. Г. Рябцев // Радіоелектрон. і комп'ют. системи. - 2006. - № 5. - С. 134-137. - Библиогр.: 5 назв. - рус. Предложен метод выбора парето-оптимальных тестов, основанный на нечетких априорных данных, что позволяет учитывать опыт квалифицированных специалистов в области диагностирования полупроводниковых запоминающих устройств. Ключ. слова: диагностирование, запоминающие устройства, критерии качества, парето-оптимальные тесты Індекс рубрикатора НБУВ: З973-045 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж24450 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського