Представлены результаты теоретических исследований фотоакустического эффекта в оптически непрозрачном и термически толстом твердом теле с пьезоэлектрической регистрацией. Проведен расчет зависимостей амплитуды и фазы фотоакустического сигнала от частоты модуляции лазерного излучения, толщины дефекта и глубины его залегания для модельной трехслойной структуры Si - GaAs - Si. Показано, что изменяя частоту модуляции, можно проводить послойный анализ подповерхностных свойств объекта.

Подтверждено уменьшение при спекании средней величины зерна карбида вольфрама в вольфрамовых твердых сплавах при их легировании микродобавками карбидов хрома и тантала. Тантал в кобальтовой связующей фазе не обнаружен, а сосредоточен по межзеренным и межфазным границам, в то время как основное количество хрома, введенного в виде карбида, находится в связующей фазе.

Індекс рубрикатора НБУВ: К9

Рубрики:

Приладобудування

Шифр НБУВ: Ж25189 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Рассказано о проведенных ООО "Карл Цейсс" и ИСМ им. В. Н. Бакуля в 2006 г. совместных научно-практических семинарах, посвященных современному оборудованию фирмы "Карл Цейсс" для изучения структуры материалов и конкретному его применению при решении задач материаловедения.

На Первой международной выставке "Нанотехнологии-2008" и Международной конференции "Инновации Carl Zeiss для нанотехнологий", которые состоялись в рамках Международного форума "Высокие технологии" в выставочном центре "КиевЭкспоПлаза", компания "Сarl Zeiss" представила уникальное оборудование - действующий конфокальный микроскоп Axio CSM 700 и электронный микроскоп ULTRA plus. Это актуальные разработки Carl Zeiss, адаптированные для решения многогранных исследовательских задач и отвечают самым высоким требованиям ученых.

Дана информация о Научно-практическом семинаре "Системы анализа картин дифракции отраженных электронов Oxford Instruments на базе электронных микроскопов Carl Zeiss для текстурного и фазового анализа металлов и сплавов", который организован и проведен ООО "Карл Цейсс" и ИСМ им. В. Н. Бакуля для специалистов по электронной микроскопии НИИ и заводских лабораторий. Представлено аналитическое оборудование, позволяющее помимо изучения морфологии образцов получать данные об их химическом составе и структуре. Рассмотрены системы анализа картин дифракции отраженных электронов, основанные на одновременном использовании методов ДОЭ и ЭД-рентгеновского микроанализа для автоматической идентификации фаз и картирования. При проведении мастер-класса продемонстрирован процесс исследования структуры сложных материалов, на "круглом столе" подтверждена актуальность внедрения продемонстрированной техники и методов исследований.

Приведены основные технические характеристики, особенности и преимущества микротвердомеров серии DuraScan, твердомеров серии DuraJet, новых универсальных твердомеров серии DuraVision и автоматических интегрированных систем, разрабатываемых, проектируемых и изготавливаемых австрийской компанией EMCO-TEST для измерения твердости по Бринеллю, Роквеллу, Супер Роквеллу, Виккерсу. Компания "Мелитэк-Украина" гарантирует лучшую техническую поддержку, сервисное и послегарантийное обслуживание указанных твердомеров.

В настоящее время микроскопы Olympus серии DSX обеспечивают простоту эксплуатации и получение изображений с высоким разрешением, что ранее было недостижимо. Оптико-цифровые микроскопы повышают эффективность контроля качества для любой отрасли промышленности.

Today, method of EBSD in a scanning electron microscope is used in various areas of research: in the metal, aerospace, nuclear, automotive industry, microelectronics, basic science. The quality of the sample surface is very essential for the method application. Equipment and methods of preparation from manufacturer of laboratory equipment Struers (Denmark) help to solve this problem and provide quality of sample polished surface. The paper describes main stages of sample preparation and gives recommendations on the choice of equipment and its operation modes.

Phenom ProX - morden effective universal desktop Scanning Electron Microscope with integrated EDS system. Phenom-World helps customers to stay competitive in a world where critical dimensions are continuously getting smaller. All Phenom desktop systems give direct access to the high resolution and high-quality imaging and analysis required in a large variety of applications. They are affordable, flexible and a fast tool enabling engineers, technicians, researchers and educational professionals to investigate micron and submicron structures.

Металлография титана является неотъемлемой частью контроля его качества, начиная от мониторинга начального процесса производства до проверки пористости на литых деталях и контроля процессов термической обработки. Кроме того, металлография играет важную роль в исследованиях и разработке титановых сплавов и изделий. Титан является очень пластичным, низким по плотности и высоким по прочности металлом с отличной коррозионной стойкостью. При его пластичности требуется определенная металлографическая подготовка шлифов с использованием специальных отрезных кругов для вырезки заготовок под образцы и химико-механического полирования. Этот метод полирования осуществляется на автоматическом оборудовании, дает последовательно отличные и воспроизводимые результаты.