Ключ. слова: квантовые точки, высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия, многослойная структура, кривые качания, брэгговская дифракция
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.212.1 + В371.3

Рубрики:

Рентгенівський метод (метод кутів Брегга)

Квантова теорія

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Розглянуто вплив анізотропних спотворень кристалічної гратниці у надгратниці на криві дифракційного відбиття (КДВ), одержані за допомогою методів високороздільної рентгенівської спектрометрії. За допомогою методів динамічної теорії дифракції визначено параметри спотвореної кристалічної гратниці шарів. З аналізу інтенсивностей сателітних піків експериментальних і модельованих КДВ визначено форму й параметри інтерфейсу між шарами.

Исследовано влияние плавных границ между слоями в многослойных структурах на рентгеновские кривые дифракционного отражения (КДО). Проанализированы различные виды переходных областей и влияние их параметров на КДО. Продемонстрирована принципиальная возможность определения градиента состава между слоями из различных материалов при помощи обыкновенного рентгеноструктурного анализа, не прибегая к более сложным и разрушающим методикам.

Ключ. слова: дисперсионное уравнение, дисперсионная поверхность, дифракция рентгеновских лучей, геометрия Брэгга и Лауэ
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.212в641.8

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.24 + В379.13

Рубрики:

Оптичні властивості напівпровідників

Квантова теорія

Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Используя анализ кривых дифракционного отражения и карт распределения интенсивности диффузно рассеянного рентгеновского излучения в обратном пространстве, полученных в симметричной 004 и несимметричной 113 и 224 дифракционных геометриях, проведены исследования многослойных напряженных InGaAs(N)/GaAs(100) структур с единичными квантовыми ямами, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Обнаружена азимутальная зависимость дифракционного эффекта, известного как "wiggles", и обсуждены причины его возникновения. Они вызваны взаимным действием двух факторов: симметрии собственного тензора внешних напряжений и симметрии упругого модуля материала подложки, который приводит к изменению наклонов кристаллографических плоскостей с глубиной как в потенциальной яме, так и на границах барьерного слоя. Обсуждены другие возможные физические механизмы этого эффекта в напряженных структурах.

Освещены вопросы возрождения и развития в современной России ремесленной деятельности и профессионального ремесленного образования сквозь призму культурно-исторической ретроспективы и оценку современного состояния ремесленного сектора экономики. В табличной форме представлены препятствия на пути становления профессионального ремесленного образования в России и пути их решения.

Висвітлено питання відродження та розвитку в сучасній Росії ремісничої діяльності та професійної ремісничої освіти крізь призму культурно-історичної ретроспективи й оцінку сучасного стану ремісничого сектору економіки. У табличній формі наведено перепони на шляху становлення ремісничої освіти у Росії та шляхи їх вирішення.

Освещен опыт реализации экспериментальной работы по подготовке работников для малых предприятий ремесленного профиля. Практическая часть поисковой работы рассмотрена через призму теоретического осмысления места и роли ремесленного образования в современном обществе.

Висвітлено досвід реалізації експериментальної роботи з підготовки працівників для малих підприємств ремісничого профілю. Практичну частину пошукової роботи розглянуто крізь призму теоретичного осмислення місця та ролі ремісничої освіти в сучасномусуспільстві.

The article considers experience of realization of experimental of employees of small craft enterprises through the theoretical analysis of the place and role of craft education in modern society.