Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
| Знайдено в інших БД: | Книжкові видання та компакт-диски (2) |
Пошуковий запит: (<.>A=Кременчуцкая М$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
| 1. | Кременчуцкая М. К. Метод теневой электронной микроскопии и оценка параметров шероховатости микроизделий / М. К. Кременчуцкая // Металлофизика и новейшие технологии. - 2000. - 22, № 9. - С. 46-49. - Библиогр.: 9 назв. - рус. Розглянуто варіант тіньової електронної мікроскопії, що стосується безпосередньо центрального проектування тіньового зображення мікрооб'єкта, наприклад в електронографі. Наведено застосування вказаного методу до кількісної оцінки параметрів шорсткості мікровиробів. Ключ. слова: микроскопия, шероховатость, деформационный рельеф, электронограф, микропровод Індекс рубрикатора НБУВ: К63-188с3 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського