Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (1)
Пошуковий запит: (<.>A=Носик В$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 10
Представлено документи з 1 до 10

      
Категорія:    
1.

Янчук В. З. 
Аграрне право України : Підруч. / В. З. Янчук, В. І. Андрійцев, С. Ф. Василюк, Б. Д. Клюкін, В. В. Носик, О. О. Погрібний, В. І. Семчик, В. В. Янчук, Б. В. Янчук. - 2-ге вид., переробл. та доп. - К. : Юрінком Інтер, 1999. - 720 c. - Бібліогр.: с. 681-709. - укp.

Розглянуто питання загальної теорії аграрного права, аграрні правовідносини та аграрне право зарубіжних країн (Франції, США, Англії, Іспанії, ФРН). На основі норм чинного законодавства висвітлено правове становище суб'єктів аграрного права, права власності, виробничо-господарської і фінансово-кредитної діяльності сільськогосподарських товаровиробників та аграрні договірні зобов'язання. Проаналізовано питання про взаємозв'язок і співвідношення тих видів правовідносин, суб'єктами яких є сільськогосподарські товаровиробники. Наведено правові норми, які визначають адміністративні та цивільні правові норми щодо охорони праці, відповідальність за порушення права власності, а також вперше в аграрно-правовій літературі приділено увагу маркетингу, оподаткуванню і банкрутству сільськогосподарських підприємств. Розглянуто питання правового регулювання реалізації сільськогосподарської продукції та юридичного обслуговування сільськогосподарських підприємств.


Індекс рубрикатора НБУВ: Х859(4УКР) я73

Рубрики:

Шифр НБУВ: ВА594261 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
2.

Носик В.  
Оформлення і переоформлення прав на землю: юридичний факт, право чи обов'язок? / В. Носик // Право України. - 2004. - № 5. - С. 127-131. - Бібліогр.: 6 назв. - укp.


Індекс рубрикатора НБУВ: Х859(4УКР)11

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж27747 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
3.

Шпак А. П. 
Природа и принципы радикального повышения информативности диагностики наносистем при переходе от кинематической картины рассеяния Кривоглаза к динамической / А. П. Шпак, М. В. Ковальчук, В. Л. Носик, В. Б. Молодкин, В. Ф. Мачулин, И. М. Карнаухов, В. В. Молодкин, Е. Г. Лень, Дж. Айс, Р. И. Барабаш, Е. В. Первак // Металлофизика и новейшие технологии. - 2009. - 31, № 5. - С. 615-632. - Библиогр.: 37 назв. - рус.

Раскрыта физическая природа явлений, обуславливающих, с одной стороны, принципиальное ограничение информативности кинематической картины рассеяния, а с другой стороны, радикальное повышение информативности картины динамического рассеяния. Это повышение обусловлено обнаруженной и, главное, очень существенной зависимостью характера влияния дефектов на динамическую картину от условий дифракции, что принципиально не имеет места в кинематическом случае. Единая физическая интерпретация на этой основе всего круга явлений и эффектов, обуславливающих различную информативность динамической и кинематической картин рассеяния, позволила разработать новые принципы высокоинформативной неразрушающей диагностики структурного совершенства кристаллических систем, т.е. основы диффузно-динамической комбинированной дифрактометрии, суть которой состоит в комбинированной обработке результатов измерений картины рассеяния при различных условиях динамической дифракции для реализации многопараметрической диагностики. Отмечено, что указанные результаты удалось получить только благодаря использованию в динамической теории метода флуктуационных волн, разработанного М. А. Кривоглазом при построении им кинематической теории рассеяния, и созданных им основ классификации дефектов по характеру их влияния на картину рассеяния.


Індекс рубрикатора НБУВ: Ж620

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
4.

Олиховский С. И. 
Динамическая теория рассеяния сильно изогнутыми кристаллами с дефектами / С. И. Олиховский, В. Б. Молодкин, О. С. Кононенко, А. А. Катасонов, В. Л. Носик // Металлофизика и новейшие технологии. - 2009. - 31, № 9. - С. 1223-1238. - Библиогр.: 10 назв. - рус.

В случае сильного изгиба построена динамическая теория дифракции рентгеновских лучей для брэгговской и квазидиффузной компонент отражательной способности тороидально изогнутого монокристалла, содержащего однородно распределенные микродефекты. Получены аналитические выражения для брэгговской и квазидиффузной составляющих, отражательной способности кристалла. Данная задача решена с применением наиболее сложного варианта метода перевала для случая слияния двух точек перевала.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.212.1

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
5.

Шпак А. П. 
Интегральная многопараметрическая дифрактометрия наносистем на основе эффектов многократности диффузного рассеяния / А. П. Шпак, М. В. Ковальчук, В. Б. Молодкин, В. Л. Носик, С. В. Дмитриев, Е. Г. Лень, С. И. Олиховский, А. И. Низкова, В. В. Молодкин, Е. В. Первак, А. А. Катасонов, Л. И. Ниничук, А. В. Мельник // Успехи физики металлов. - 2009. - 10, № 3. - С. 229-281. - Библиогр.: 54 назв. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: Ж620 + В372.212.1

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж23022 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
6.

Молодкин В. Б. 
Многообразность динамической картины рассеяния излучений монокристаллами с несколькими типами микродефектов / В. Б. Молодкин, А. П. Шпак, М. В. Ковальчук, В. Ф. Мачулин, И. М. Карнаухов, В. Л. Носик, А. Ю. Гаевский, В. П. Кладько, С. И. Олиховский, Е. Г. Лень, Б. В. Шелудченко, С. В. Лизунова, В. В. Молодкин, С. В. Дмитриев, В. В. Лизунов // Металлофизика и новейшие технологии. - 2011. - 33, № 8. - С. 1083-1110. - Библиогр.: 53 назв. - рус.

Уникальная чувствительность зависимостей картин многократного брэгговского и диффузного рассеяния от различных условий дифракции к характеристикам дефектов была обнаружена в [1]. Комбинированная обработка необходимых наборов этих зависимостей обеспечивает исключительную информативность диагностики. Показано, что в эксперименте в различных условиях дифракции это проявляется как многообразность динамической картины рассеяния при фиксированной дефектной структуре кристалла. При этом указанная многообразность оказывается индивидуальной для каждого типа дефектов в кристаллах. В результате появляется возможность рассмотрения рентгеновских или нейтронных дифракционных измерений для одного образца с несколькими типами дефектов, полученных в разных условиях динамической дифракции, в качестве независимых экспериментальных данных, что позволяет однозначно решать многопараметрическую обратную задачу рассеяния - восстанавливать параметры одновременно нескольких типов дефектов, присутствующих в кристаллах, по нескольким картинам дифракции. Решение указанной многопараметрической задачи для систем со сложной дефектной структурой путем совместной обработки необходимого набора независимых экспериментальных данных положено в основу нового поколения кристаллографии - многопараметрической диффузно-динамической комбинированной дифрактометрии, которая обосновывается и развивается.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.212.1 + В372.31

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
7.

Шпак А. П. 
Новые диагностические возможности деформационных зависимостей интегральной интенсивности рассеяния кристаллами с дефектами для Лауэ-дифракции в области IBKD-края поглощения / А. П. Шпак, В. Б. Молодкин, М. В. Ковальчук, В. Л. Носик, А. И. Низкова, В. Ф. Мачулин, И. В. Прокопенко, Е. Н. Кисловский, В. П. Кладько, С. В. Дмитриев, Е. В. Первак, Е. Г. Лень, А. А. Белоцкая, Я. В. Василик, А. И. Гранкина, И. Н. Заболотный, А. А. Катасонов, М. Т. Когут, О. С. Кононенко // Металлофизика и новейшие технологии. - 2009. - 31, № 7. - С. 927-945. - Библиогр.: 11 назв. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
8.

Шпак А. П. 
Новые диагностические возможности деформационных зависимостей интегральной интенсивности рассеяния кристаллами с дефектами для лауэ-дифракции в условиях нарушения закона Фриделя / А. П. Шпак, В. Б. Молодкин, М. В. Ковальчук, В. Л. Носик, А. И. Низкова, В. Ф. Мачулин, И. В. Прокопенко, Е. Н. Кисловский, В. П. Кладько, С. В. Дмитриев, Е. В. Первак, Е. Г. Лень, А. А. Белоцкая, Я. В. Василик, А. И. Гранкина, И. Н. Заболотный, А. А. Катасонов, М. Т. Когут, и др. // Металлофизика и новейшие технологии. - 2009. - 31, № 8. - С. 1041-1049. - Библиогр.: 7 назв. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.31 + В374

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
9.

Гаевский А. Ю. 
Отражение рентгеновских лучей от шероховатой профилированной поверхности / А. Ю. Гаевский, В. Б. Молодкин, В. Л. Носик // Металлофизика и новейшие технологии. - 2010. - 32, № 12. - С. 1613-1623. - Библиогр.: 14 назв. - рус.

Проанализировано отражение рентгеновских лучей от периодических латеральных поверхностей, характеризующихся крупномасштабным одномерным профилем и мелкомасштабными шероховатостями. В приближении Кирхгоффа, когда крупномасштабные неровности поверхности представляются локально плоскими участками, получены аналитические выражения для сечения когерентного рассеяния. Для модельных профилей получены зависимости интенсивности отражения от угла наблюдения и отражательной способности для зеркального и незеркального пиков.


Індекс рубрикатора НБУВ: В346.36

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
10.

Шпак А. П. 
Полная интегральная интенсивность (ПИИ) рассеяния рентгеновских лучей монокристаллами с механически нарушенным поверхностным слоем толщиной порядка длины экстинкции / А. П. Шпак, М. В. Ковальчук, В. Б. Молодкин, В. Л. Носик, В. Ф. Мачулин, С. И. Олиховский, А. И. Низкова, С. В. Дмитриев, А. А. Белоцкая, Е. И. Богданов, Я. В. Василик, А. И. Гранкина, М. Т. Когут, В. В. Молодкин, Е. В. Первак, И. И. Рудницкая // Металлофизика и новейшие технологии. - 2010. - 32, № 10. - С. 1301-1310. - Библиогр.: 6 назв. - рус.

Показан значительный вклад в полную интегральную интенсивность (ПИИ) монокристаллов интерференционного слагаемого, обусловленного взаимодействием между вкладами в ПИИ от динамически рассеивающего объема кристалла и от кинематически рассеивающего слоя. Учитывающая указанную интерференцию теоретическая модель апробирована для определения параметров нарушенных слоев на поверхности монокристаллических пластин Si после различных технологических обработок.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського