Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
Пошуковий запит: (<.>A=Ayed H$<.>) | ||||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
||||
| 1. | Ayed H. Characterization of in-situ doped polycrystalline silicon using Schottky diodes and admittance spectroscopy / H. Ayed, L. Bechir, M. Benabdesslem, N. Benslim, L. Mahdjoubi, T. Mohammed-Brahim, A. Hafdallah, M. S. Aida // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2016. - 8, № 1. - С. 01038-1-01038-4. - Бібліогр.: 15 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського