Простий пошук
Розширений пошук
Алфавітні покажчики

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Віртуальна довідка
Тематичний інтернет-навігатор
Наукова електронна бібліотека
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
Пошуковий запит: (<.>A=Grigorashchenko O$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 2
Представлено документи з 1 до 2
      
Категорія:    
1.

Grigorashchenko O. N. 
Activation spectroscopy of electronically induced defects in solid Ne / O. N. Grigorashchenko, V. V. Rudenkov, I. V. Khizhnyi, E. V. Savchenko, M. Frankowski, A. M. Smith-Gicklhorn, M. K. Beyer, V. E. Bondybey // Физика низ. температур. - 2003. - 29, № 9-10. - С. 1147-1151. - Библиогр.: 20 назв. - англ.


Індекс рубрикатора НБУВ: В368.3

Рубрики:
 Фізика низьких температур 

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
2.

Khyzhniy I. V. 
Thermally stimulated exoelectron emission from solid Xe / I. V. Khyzhniy, O. N. Grigorashchenko, A. N. Ponomaryov, E. V. Savchenko, V. E. Bondybey // Физика низ. температур. - 2007. - 33, № 6/7. - С. 701-704. - Библиогр.: 11 назв. - англ.

Thermally-stimulated emission of exoelectrons and photons from solid Xe pre-irradiated by low-energy electrons were studied. A high sensitivity of thermally-stimulated luminescence (TSL) and thermally-stimulated exoelectron emission (TSEE) to sample prehistory was demonstrated. It was shown that electron traps in unannealed samples are characterized by a much broader distribution of trap levels in comparison with annealed samples and their concentration exceeds in number that in annealed samples. Both phenomena, TSL and TSEE, were found to be triggered by release of elections from the same kind of traps. The data obtained suggest a competition between two relaxation channels: charge recombination and electron transport terminated by TSL and TSEE. It was found that TSEE predominates at low temperatures while at higher temperatures TSL prevails. An additional relaxation channel, a photon-stimulated exoelectron emission from pre-irradiated solid Xe, was revealed.


Індекс рубрикатора НБУВ: В367

Рубрики:
 Фізика високих та низьких тисків 

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського