Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Сортувати знайдені документи за: | ||
| автором | назвою | роком видання |
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
Пошуковий запит: (<.>A=Liubchenko O$<.>) | ||||
|
Загальна кількість знайдених документів : 6 Представлено документи з 1 до 6 |
||||
| 1. | Liubchenko O. I. Modeling of X-ray rocking curves for layers after two-stage ion-implantation / O. I. Liubchenko, V. P. Kladko, O. Yo. Gudymenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2017. - 20, № 3. - С. 355-361. - Бібліогр.: 30 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 2. | Liubchenko O. I. Simulation of X-ray diffraction spectra for AlN/GaN multiple quantum well structures on AlN(0001) with interface roughness and variation of vertical layers thickness = Моделювання рентгенодифракційних спектрів від структур с множинними квантовими ямами AlN/GaN на AlN(0001) із врахуванням шерсткості та варіації товщини шарів за глибиною / O. I. Liubchenko, V. P. Kladko // Metallophysics and Advanced Technologies. - 2018. - 40, № 6. - С. 759-776. - Бібліогр.: 38 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 3. | Liubchenko O. I. The effect of ion implantation on structural damage in compositionally graded AlGaN layers / O. I. Liubchenko, V. P. Kladko, H. V. Stanchu, T. M. Sabov, V. P. Melnik, S. B. Kryvyi, A. E. Belyaev // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2019. - 22, № 1. - С. 119-129. - Бібліогр.: 40 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 4. | Borcha M. D. Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data / M. D. Borcha, M. S. Solodkyi, S. V. Balovsyak, V. M. Tkach, I. I. Hutsuliak, A. R. Kuzmin, O. O. Tkach, V. P. Kladko, O. Yo. Gudymenko, O. I. Liubchenko, Z. Swiatek // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2019. - 22, № 4. - С. 381-386. - Бібліогр.: 26 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 5. | Borcha M. D. Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data / M. D. Borcha, M. S. Solodkyi, S. V. Balovsyak, V. M. Tkach, I. I. Hutsuliak, A. R. Kuzmin, O. O. Tkach, V. P. Kladko, O. Yo. Gudymenko, O. I. Liubchenko, Z. Swiatek // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2019. - 22, № 4. - С. 381-386. - Бібліогр.: 26 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
Категорія: Енергетика. Радіоелектроніка | ||||
| 6. | Kladko V. P. Phase transition in vanadium oxide films formed by multistep deposition = Фазовий перехід у плівках оксиду ванадію, утворених багатоступеневим осадженням / V. P. Kladko, V. P. Melnik, O.I. Liubchenko, B. M. Romanyuk, O. Yo. Gudymenko, T. M. Sabov, O. V. Dubikovskyi, Z. V. Maksimenko, O. V. Kosulya, O. A. Kulbachynskyi, P. M. Lytvyn, O. O. Efremov // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2021. - 24, № 4. - С. 362-371. - Бібліогр.: 38 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського