![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Віртуальна довідка ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Тематичний інтернет-навігатор ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Наукова електронна бібліотека ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Формат представлення знайдених документів: | повний | стислий |
Пошуковий запит: (<.>A=Melnik Yu$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
| | | | |
1. |
Melnik Yu. Growth of Epitaxial CoSiV2D Thin Layers on Si(100) Wafers / Yu. Melnik, V. Usenko, I. Belousov, E. Rudenko, M. Belogolovskii, P. Seidel // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2004. - 2, вип. 2. - С. 441-452. - Библиогр.: 25 назв. - англ. Ключ. слова: silicides, roughness, growth technique, AFM images Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + Ж619
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
|