Встановлено деякі більш точні оцінки для власних значень системи диференціальних рівнянь вищого порядку. Наведено деякі більш точні оцінки для оцінки зверху (k + 1)-го власного значення і щілин між будь-якими двома послідовними власними значеннями.

Запропоновано трипараметричне рівняння стану без фізично некоректних осциляцій, що базується на узагальненому потенціалі Леннарда - Джонса (GLJ) і підході Парсафара та Мейсона [Parsafar G. A., Mason E. A., J. Phys. Chem., 1994, 49, 3049] до виведення рівняння стану з регулярністю лінійної ізотерми (LIR). Запропоноване узагальнене рівняння стану може включати в себе LIR рівняння стану як частковий випадок. Трипараметрична узагальнена регулярність лінійної ізотерми [Parsafar G. A., Mason E. A., Phys. Rev. B, 1994, 49, 3049] (PM), [Shanker J., Singh B., Kushwa S. S., Physica B, 1997, 229, 419] (SSK), [Parsafar G. A., Spohr H. V., Patey G. N., J. Phys. Chem. B, 2009, 113, 11980] (PSP) і переформульовані PM SSK рівняння стану є застосовані до 30 металічних твердих тіл у широкій області тиску. Показано, що PM, PMR і PSP рівняння стану для більшості твердих тіл і SSK і SSKR рівняння стану для декількох твердих тіл мають фізично некоректні поворотні точки, і тиск стає негативним за досить високого тиску. Узагальнене рівняння стану є здатним не тільки подолати проблему, існуючу в інших п'яти рівняннях стану, де тиск стає негативним за високого тиску, але також дає кращі результати, ніж інші рівняння стану.

Resonance diffraction of THz hidrogen cyanide laser radiation on a semiconductor (InSb) grating is studied both experimentally and theoretically. The specular reflectivity suppression due to the resonance excitation of the THz surface plasmon-polariton is observed on a pure semiconductor grating and on semiconductor gratings covered with a thin dielectric layer. The dielectric coating of the grating results in the resonance shift and widening depending both on the layer thickness and dielectric properties. A simple analytical theory of the resonance diffraction on rather shallow gratings covered with a dielectric layer is presented, and the results are in a good accordance with the experimental data. Analytical expressions for the resonance shift and broadening are essential for the resonance properties understanding and useful for sensing data interpretation of the agents deposited on the grating surface.

Розроблено імітаційну модель однобітного сигма-дельта модулятора другого порядку та аналого-цифрового перетворювача на його базі. З використанням цієї моделі проведено дослідження впливу параметрів компонентів на інтегральну нелінійність АЦП. Виявлено відсутність впливу нелінійності другого інтегратора на нелінійність АЦП.

Конструкция легковесной брони из композита керамика/алюминиевый сплав рассматривается и оптимизируется для улучшения защитных характеристик. Процесс проникновения в броню моделируется с использованием программы SPH программного обеспечения ANSYS/AUTODYN. Точность метода сглаженных частиц (метод SPH) была подтверждена путем сравнения полученных данных с известными. Рассматривались три типа композитной брони общей толщины 30, 40, 50 мм и с пятью различными отношениями толщина керамики/толщина металла при моделировании остаточной скорости пули и конечной длины. Проведено сравнение результатов моделирования с теоретической моделью. Лучшие пулезащитные характеристики трех типов брони из керамического композита были получены при отношении толщина керамики/толщина алюминия в композитной броне 4:1.