Розглянуто актуальні аспекти екологічної освіти та роль інформаційних екологічних баз даних в учбовому процесі. Проаналізовано проблеми екологічного моніторингу й організації лабораторної бази вузів, а також забруднення навколишнього середовища і здоров'я людини. Описано процеси та технічні засоби охорони навколишнього середовища, енерго- та ресурсоощадження.

Розглянуто питання екологічної освіти та моніторингу, а також роль інформаційних екологічних баз даних в учбовому процесі. Описано процеси та технічні засоби охорони навколишнього середовища, проаналізовано проблеми охорони здоров'я людини і забруднення навколишнього середовища.

За допомогою високороздільного двокристального рентгенівського дифрактометра вперше виміряно осциляції "інтегральної" інтенсивності дифузного розсіяння (ДР) від великих дефектів. Для їх кількісного опису відомі кінематичні вирази для диференційної інтенсивності ДР в області Стокса - Вільсона узагальнено з урахуванням динамічних ефектів у ДР і проінтегровано за кутами виходу. Проведена обробка виміряних кривих дифракційного відбиття відпалених монокристалів кремнію дала можливість знайти параметри дефектів (дислокаційних петель, преципітатів кисню та точкових дефектів) і продемонструвала підвищення надійності їх визначення завдяки спостережуваним осциляціям.

Ключ. слова: дифракція рентгенівських променів, динамічна теорія, кремній, мікродефекти, дифузне розсіяння, високороздільний двокристальний дифрактометр
Індекс рубрикатора НБУВ: В379.347

Рубрики:

Спектроскопія діелектриків

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Висвітлено біохімічні аспекти екологічних проблем. Описано процеси, апарати, прилади та моніторинг з техніки охорони навколишнього середовища. Акцентовано увагу на енерго- та ресурсоощадні як важливій компоненті екологічних проблем. Розглянуто гідравлічні, тепломасообмінні процеси та апарати.

Подчеркнуто, что минерально-сырьевая база, как важнейшая составляющая часть природных ресурсов, имеет исключительное значение не только для развития экономики государства, но и является гарантией ее безопасности и обусловливает перспективные стратегические направления устойчивого социально-экономического развития промышленных регионов Украины.

Створено теоретичну модель дифракції рентгенівських променів у монокристалах зі структурно порушеним приповерхневим шаром. Модель враховує дифузне розсіяння (ДР) від дефектів у порушеному шарі і згасання інтенсивності когерентного розсіяння внаслідок ДР. Враховано також ДР від дефектів в основному об'ємі кристала. Проведено вимірювання кривих дифракційного відбиття (КДВ) від іонно-імплантованих монокристалів галій-гадолінієвого граната. Обробка виміряних КДВ на базі розробленої теорії дозволила встановити як параметри профілю деформації у порушеному шарі, так і характеристики структурних дефектів в порушеному шарі та основному об'ємі досліджуваних зразків.

Створено теоретичну модель дифракції рентгенівських променів у високороздільному двокристальному дифрактометрі (ДКД) з урахуванням ефектів дифузного розсіяння від дефектів у кристалах монохроматора. Показано, що вони суттєво впливають на інструментальну функцію ДКД. Порівняно результати діагностики дефектів різних монокристалів без урахування та з урахуванням цих ефектів, що демонструє необхідність їх урахування для адекватної кількісної діагностики.

Розраховано комплексні структурні фактори і фур'є-компоненти поляризовності кристала галій-гадолінієвого граната (ГГГ) для набору рефлексів і характеристичних довжин хвиль рентгенівського випромінювання. Виведено формули для поправок до рентгенодифракційних параметрів внаслідок дифузного розсіяння від структурних дефектів. На основі аналізу виміряних кривих дифракційного відбиття визначено рентгенодифракційні параметри реальних монокристалів ГГГ.

Аналітичні вирази для опису інтенсивности піків дифузного розсіяння від мікродефектів різних типів з врахуванням інструментальних особливостей трикристального дифрактометра (ТКД) виведено з формул узагальненої динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів в реальних монокристалах. Проведено вимірювання і аналіз профілів ТКД та двокристальної рентгенівської дифрактометрії від монокристалів кремнію з мікродефектами, визначено характеристики цих мікродефектів.

Одержано загальний вираз для дифракційного профілю, вимірюваного трикристальним дифрактометром (ТКД), в якому враховано дифузне розсіяння від дефектів як в досліджуваному кристалі, так і в кристалах монохроматора і аналізатора. Враховано також вплив деформації в приповерхневих шарах всіх трьох кристалів ТКД. Проведено аналіз профілів ТКД від монокристалів кремнію з мікродефектами, визначено характеристики цих мікродефектів у монохроматорі і параметри профілю деформації в приповерхневих шарах досліджуваного кристала, монохроматора і аналізатора.

Одержано аналітичні вирази для інтенсивності дифузного розсіяння (ДР), проінтегрованої по Евальдовій сфері з врахуванням обмеженості апертури вхідного вікна детектора двокристального дифрактометра (ДКД). Проаналізовано вплив співвідношення між розмірами області ДР Хуаня і величиною апертури на розподіл інтенсивності ДР, виміряної на ДКД. За допомогою виміряних кривих дифракційного відбиття здійснено діагностику дефектної структури монокристала Si, вирощеного з використанням методу зонного топлення.

Наведено основні формулювання щодо необхідності та доцільності комп'ютеризації бухгалтерського обліку та фінансових результатів, зокрема, вибору програмного продукту. Сьогодні автоматизація є невід'ємним атрибутом діяльності будь-якого господарюючого суб'єкта незалежно від форми власності, галузі та кількості працівників, а особливо бухгалтерського апарату.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,022 + В372.31,022

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Дефекти

Шифр НБУВ: РА311274 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.222 + В372.134

Рубрики:

Дефекти напівпровідників

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

У процесі аналізу кривих дифракційного відбиття, що виміряне на високорозрізняльному двокристальному рентгеновому дифрактометрі, виконано кількісну характеризацію складних мікродефектних структур у кристалах кремнію, відпалених за різних температур протягом 50 год. На підставі результатів характеризації, що виконано з використанням формул динамічної теорії дифракції рентгенових променів у недосконалих кристалах із випадково розподіленими мікродефектами декількох типів, визначено температурні залежності концентрацій і середніх розмірів преципітатів кисню та дислокаційних петель.

Розглянуто умови роботи фахівців у сучасних оздоровчих центрах у різних зонах і кабінетах. Зазначено, що відсутні рекомендації щодо проведення безпечних процедур як для клієнта, так і для фахівця з фізичної реабілітації. Наголошено на необхідності складання рекомендацій харчування, яке є важливим фактором швидкого відновлення організму фахівця після роботи.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ 

За допомогою методів високороздільчої рентгенівської дифрактометрії виконано кількісну характеризацію складних мікродефектних структур у кристалах кремнію, вирощених за методом Чохральського і опромінених різними дозами високоенергетичних електронів (18 МеВ). На підставі результатів характеризації, що виконувалася з використанням формул статистичної динамічної теорії дифракції рентгенівських променів у недосконалих кристалах з випадково розподіленими мікродефектами декількох типів, визначено дозові залежності концентрацій та середніх розмірів дислокаційних петель і приєднаних до них після опромінення міжвузловинних атомів кремнію.