Індекс рубрикатора НБУВ: Л42-106.3

Рубрики:

Керамічні вироби (кераміка)

Шифр НБУВ: Ж14159 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Розглянуто основні питання відбивної еліпсометрії, зокрема, зв'язок характеристик відбивної системи з поляризаційними параметрами відбитої від системи електромагнітної хвилі для різних моделей відбивної системи - одно-, двошарової, гетерогенних середовищ, середовищ із шорсткими межами поділу. Викладено основи методу фотоелектричної еліпсометрії, алгоритми розрахунку параметрів системи за виміряними значеннями еліпсометричних параметрів. Значну увагу приділено зв'язку оптичних і електронних характеристик системи в області релаксації носіїв заряду, зв'язку енергетичної зонної структури з оптичними властивостями металів, напівпровідників і діелектриків. Наведено результати спектроеліпсометричних досліджень домішкових станів невпорядкованих сплавів, ефектів андерсонівської локалізації електронів у аморфних металевих сплавах, поляритонних ефектів у плівках.

Рассмотрены основные вопросы отражательной эллипсометрии, в частности, связь характеристик отражательной системы с поляризационными параметрами отраженной от системы электромагнитной волны для разных моделей отражательной системы - одно-, двухслойной, гетерогенных сред, сред с шероховатыми границами деления. Изложены основы метода фотоэлектрической эллипсометрии, алгоритмы расчета параметров системы по измеренным значениям эллипсометрических параметров. Значительное внимание уделено связи оптических и электронных характеристик системы в области релаксации носителей заряда, связи энергетической зонной структуры с оптическими свойствами металлов, полупроводников и диэлектриков. Приведены результаты спектроэллипсометрических исследований добавочных состояний неупорядоченных сплавов, эффектов андерсоновской локализации электронов в аморфных металлических сплавах, поляритонных эффектов у пленках.

Індекс рубрикатора НБУВ: Л428.854

Рубрики:

Силіциди

Шифр НБУВ: Ж28502 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: К235.120.26

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Экспериментально измерены с помощью метода Битти и теоретически вычислены в рамках трехслойной модели тонкой пленки зависимости эллипсометрических параметров от угла падения света на пленку для 3-х тонких пленок молибдена при возбуждении поверхностных поляритонов. Измеряемыми эллипсометрическими параметрами были азимут восстановленной линейной поляризации и сдвиг фаз между р- и s-компонентами отраженного света. Теоретические расчеты проведены по рекуррентным формулам Эйри. Проведенные исследования показали, что экспериментальные и теоретические зависимости эллипсометрических параметров от угла падения имеют идентичный ход, но между ними есть количественные расхождения. Последнее объясняется тем, что в использованной теоретической трёхслойной модели тонкой пленки Mo границы между слоями считались идеально плоскими. В то же время реальные границы раздела - шероховатые и неоднородные. Полученные результаты показали, что средний слой пленки является металлическим молибденом, а верхний и нижний слои являются окислами молибдена.

Вуглецеві нанотрубки вивчено за допомогою скануючої тунельної мікроскопії та спектральної еліпсометрії. Виміри з просторовою роздільною здатністю 0,15 нм показали, що інтерфейсний шар вуглецева нанотрубка - мідна підкладка має складну просторову структуру. Одержаний просторовий розподіл електронної густини в зоні контакту нанотрубки з підкладкою та біля її країв проаналізовано з використанням зонної теорії. Проведено квантово-механічні розрахунки вуглецевої нанотрубки із 40-ка атомів для ілюстрації одержаних результатів.

Тонкі плівки молібдену на скляних підкладках вивчено за допомогою скануючої тунельної мікроскопії та магнітної силової мікроскопії. Виміри показали, що приповерхневий шар молібденової плівки товщиною декілька міжатомних відстаней має слабо виражені магнітні властивості. Результати скануючої тунельної мікроскопії вказують на залежність магнітних властивостей молібдену від типу кристалічної структури. Причину малих значень магнітних констант у аморфного молібдену пояснено з точки зору квантовомеханічної теорії парамагнетизму.

Індекс рубрикатора НБУВ: К235.120.26

Шифр НБУВ: Ж28079/фіз.-мат. Пошук видання у каталогах НБУВ 

Отокохлеарні синдроми у разі цереброваскулярних захворювань (ЦВЗ) виявляються в значної частки пацієнтів із хронічними порушеннями мозкового кровообігу (ХПМК) і становлять актуальну диференціально-діагностичну проблему. У разі прогресування ЦВЗ такі синдроми трансформуються у більш виражені ступені нейросенсорної туговухості, що потребує адекватних методів лікування. Проведено дослідження залежностей порушень функції еферентної нейрональної ланки слухового аналізатора за допомогою методу слухових викликаних потенціалів мозкового стовбура (СВПМС) та функції слуху в пацієнтів з ХПМК з урахуванням стану інтрацеребральної гемодинаміки у 24-х пацієнтів із клінічними ознаками отокохлеарних порушень і церебральним атеросклерозом. Порушення стовбурової відповіді було розділене за ступенем вираженості.

Цереброваскулярні захворювання (ЦВЗ) є актуальною проблемою для всіх країн світу внаслідок як тяжких гострих церебральних катастроф, так і хронічних порушень, у тому числі когнітивних функцій, з поступовим або раптовим їх зниженням. Корекція когнітивних порушень, пов'язаних із ЦВЗ, може бути більш ефективною у разі врахування ультрадіанних біологічних ритмів у процесі застосування фармакологічних препаратів або немедикаментозних методів.

Високоорієнтований піролітичний графіт з наноструктурами у вигляді сходинок на його гранях вивчався за допомогою скануючої тунельної мікроскопії та кутово залежної еліпсометрії. Еліпсометричні параметри відбитого світла від поверхні графіту проявили анізотропію, яку було пояснено за допомогою числового розв'язку рівнянь Максвела для плоскої електромагнітної хвилі поблизу поверхі наноструктур.

Нанокластери окислів міді вивчались за допомогою скануючої тунельної мікроскопії. Зареєстровано двофазну структуру кластерів з просторовою роздільною здатністю 0,12 нм. Просторовий розподіл хвильових функцій, а також "замивання" країв забороненої зони нанооксидованих ділянок було знайдено під час числових розрахунків за методом функціоналу густини. Електричну провідність нанокластерів було проаналізовано з точки зору формалізму фізики твердого тіла аморфних тіл.

Індекс рубрикатора НБУВ: Р282.771

Шифр НБУВ: Ж28079/фіз.-мат. Пошук видання у каталогах НБУВ 

Вуглецеві нанотрубки після тривалого (понад 1 рік) зберігання у повітряній атмосфері в умовах темряви вивчалися за допомогою скануючої тунельної мікроскопії та спектральної еліпсометрії. Проведеними вимірами з високою просторовою роздільною здатністю зареєструвано джгути нанотрубок, а також виявлено дефекти їх кристалічної будови. Одержані дисперсійні залежності оптичної провідності вуглецевих нанотрубок проаналізовано з урахуванням наявності дислокацій в їх кристалічній структурі. Проведено також квантово-механічні розрахунки вуглецевих нанотрубок з 64 та 61 атомами у їх складі для пояснення одержаних результатів.

Високоорієнтований піролітичний графіт з наноструктурами у вигляді сходинок на його гранях вивчався за допомогою скануючої тунельної мікроскопії та кутово залежної еліпсометрії. Еліпсометричні параметри відбитого світла від поверхні графіту проявили анізотропію, яку було пояснено за допомогою числового розв'язку рівнянь Максвела для плоскої електромагнітної хвилі поблизу поверхі наноструктур.