1. |
Solonin Yu. M. Structural investigation of thin films and extremely grinded powders of fullerene CV60D = Структурные исследования тонких пленок и сильно размолотых порошков фуллерита CV60D / Yu. M. Solonin, E. A. Grayvoronskaya // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 1. - С. 53-65. - Библиогр.: 12 назв. - англ. Ключ. слова: C_60, fullerite, electron microscopy, thin films, Rietveld method Індекс рубрикатора НБУВ: В372.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ
|