Надано теоретичне та експериментальне обгрунтування запропонованого нового методу диференційно-інтегральної трикристальної рентгенівської дифрактометрії недосконалих монокристалів. Розглянуто принципи роботи трикристального рентгенівського дифрактометра (ТРД) в диференційному режимі вимірювань. Надано опис оригінальної конструкції та схеми універсального ТРД, створеного в ІМФ НАН України з метою реалізації запропонованого методу. У випадку брегг-дифракції рентгенівських променів у монокристалах з однорідно розподіленими обмеженими дефектами отримано вирази, що встановлюють аналітичний зв'язок між відношенням інтегральних інтенсивностей дифузного та когерентного піків ТРД від досліджуваного кристала, тобто відношенням диференційних інтенсивностей дифузного та когерентного розсіяння, проінтегрованих по сфері Евальда поблизу вузла оберненої гратки, та характеристиками дефектів різного роду. Вирази, що отримані, використано для високоінформативної діагностики дефектів за кутовими залежностями інтегральних параметрів профілів інтенсивностей ТРД, виміряних від монокристала кремнію, який містить хаотично розподілені частки нової фази. Обговорюються переваги запропонованої модифікації методу ТРД.

Створено теоретичні та експериментальні основи методу інтегральної трикристальної рентгенівської дифрактометрії та наведено результати, які демонструють його можливості. У запропонованих варіантах методу, додатково до вимірювань повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) дефектних монокристалів, реалізовано роздільне вимірювання когерентної та дифузної компонент ПІВЗ та їх товщинних залежностей. Сепарування когерентної та дифузної компонент ПІВЗ забезпечило підвищення чутливості до структурних недосконалостей кристалічної гратки порівняно з методом товщинних залежностей ПІВЗ.

Відносно прості аналітичні формули, виведені для повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) монокристалів з випадково розподіленими дефектами у граничних випадках динамічної дифракції рентгенівських променів (наближення тонкого та товстого кристалів для симетричної геометрії дифракції Лауе та асиметричної - Брегга), застосовано для розробки нових (комбінованих) методів ПІВЗ з метою визначення параметрів дефектів. Вирази для ПІВЗ залежать в явному вигляді від статичного фактора Дебая - Валлера та двох коефіцієнтів поглинання завдяки дифузному розсіянню для когерентної та дифузної компонент ПІВЗ, до складу яких входять параметри дефектів та дифракційні параметри. Спільна обробка товщинних (у випадку Лауе) та/або азимутальних (у випадку Брегга) залежностей ПІВЗ, які вимірювались для різних довжин хвиль та/або рефлексів, підвищує чутливість та надійність методів ПІВЗ під час діагностики параметрів дефектів. Можливості комбінованих методів продемонстровано теоретично та експериментально для відпаленого монокристала кремнію.

Рассмотрены проблемы, возникающие при компьютерной обработке дифракционных спектров, полученных на стандартном оборудовании от наиболее "ходового" технического материала - поликристалла. Представлены оптимизационные алгоритмы компьютерного индуцирования, критерии достоверностей и предельные возможности метода.

Описано сучасний стан та перспективи розвитку програмного забезпечення системи рентгеноспектрального мікроаналізу, що використовується в електронних мікроскопах-мікроаналізаторах РЕММА-101А та РЕММА-102.

У випадку симетричної Лауе-дифракції для кристалів зі згином параболічної форми, отримано систему диференціальних рівнянь, які описують міжгілкове розсіяння рентгенівських променів. Показано, що міжгілковий обмін можна розглядати як результат динамічної взаємодії ейкональних мод, які повністю визначають внутрішньогілкове розсіяння рентгенівських променів. Зроблено висновок про те, що міжгілкове розсіяння є значним тільки в області кристала, для якої суттєвим є багаторазове когерентне розсіяння рентгенівських променів. Особливості міжгілкового розсіяння рентгенівських променів досліджено також у випадку сильних деформацій, коли має місце кінематичний режим дифракції.

Узагальнені аналітичні вирази для повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) тонких монокристалів з мікродефектами одержано для випадку дифракції рентгенівських променів за Лауе. Виміряно енергетичні залежності ПІВЗ та сепаровані когерентної і дифузної компонент ПІВЗ з використанням набору характеристичних жорстких рентгенівських випромінювань. За результатами аналізу вимірювань визначено характеристики мікродефектів у термооброблених кристалах кремнію.

Ключ. слова: solid solution, short-range order, X-ray diffuse scattering, short-range order parameters
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 + К230.401

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Методи дослідження станів і структури кольорових металів і сплавів

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: nonstoichoimetry, x-ray diffraction, order-disorder transformation, reactive diffusion
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.13 + В375.3

Рубрики:

Рентгеноструктурний аналіз

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: трехволновая дифракция, эффект Бормана, одномерная деформация, аномальное прохождение рентгеновских лучей
Індекс рубрикатора НБУВ: В376.1 + В372.134

Рубрики:

Твердість. Пружність. Поширення звуку (пружних коливань) в монокристалах

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: периодические деформации кристалла, трехволновые дифракции, рентгеновские лучи
Індекс рубрикатора НБУВ: В376.1 + В372.13

Рубрики:

Твердість. Пружність. Поширення звуку (пружних коливань) в монокристалах

Рентгеноструктурний аналіз

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: рентген, ультразвук, дифракционный контраст, микродефекты, секционные топограммы, динамическое рассеяние, структурное совершенство кристаллов
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: рентгеновское излучение, когерентное рассеяние, изгиб
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.13

Рубрики:

Рентгеноструктурний аналіз

Шифр НБУВ: Ж28502 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: фактор поглощения излучения, дифрактометрия, плавленный кварц, монокристаллический сплав Ni - 11,8% ат.Mo.
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 + В378.21

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Структурний аналіз монокристалів металів

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Освещено место компьютерных методов в рентгеновской дифрактометрии поликристаллов. Проанализированы предельные возможности порошкового метода и особенности определения рентгеновских угасаний. Описаны элементы кристаллографии, предложены алгоритмы определения и уточнения элементарных ячеек на основе дифрактограмм, полученных от гетерогенных материалов.

Рассмотрены вопросы распространения волн рентгеновского диапазона в периодических структурах. Описаны кристаллические структуры с периодическим полем деформаций. Проанализированы общие закономерности рентгеновской дифракции в кристаллах со сверхпериодом. Раскрыты математические аспекты динамического рассеяния в сверхрешетках, освещена кинематическая теория дифракции в них. Изложена концепция единой параметризации в проблеме описания динамической дифракции в сверхрешетках. Изучены влияние градиента деформации между слоями сверхрешеток на динамические эффекты рентгеновской дифракции, особенности дифракции в кристаллах с переменным градиентом деформации.

Ключ. слова: залізо-ітрієвій гранат, іонна імплантація, ядерні та електронні енергетичні втрати, профіль відносної зміни міжплощинної відстані
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.6 + В372.134

Рубрики:

Тонкі шари твердих тіл

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ