Надано теоретичне та експериментальне обгрунтування запропонованого нового методу диференційно-інтегральної трикристальної рентгенівської дифрактометрії недосконалих монокристалів. Розглянуто принципи роботи трикристального рентгенівського дифрактометра (ТРД) в диференційному режимі вимірювань. Надано опис оригінальної конструкції та схеми універсального ТРД, створеного в ІМФ НАН України з метою реалізації запропонованого методу. У випадку брегг-дифракції рентгенівських променів у монокристалах з однорідно розподіленими обмеженими дефектами отримано вирази, що встановлюють аналітичний зв'язок між відношенням інтегральних інтенсивностей дифузного та когерентного піків ТРД від досліджуваного кристала, тобто відношенням диференційних інтенсивностей дифузного та когерентного розсіяння, проінтегрованих по сфері Евальда поблизу вузла оберненої гратки, та характеристиками дефектів різного роду. Вирази, що отримані, використано для високоінформативної діагностики дефектів за кутовими залежностями інтегральних параметрів профілів інтенсивностей ТРД, виміряних від монокристала кремнію, який містить хаотично розподілені частки нової фази. Обговорюються переваги запропонованої модифікації методу ТРД.

Створено теоретичні та експериментальні основи методу інтегральної трикристальної рентгенівської дифрактометрії та наведено результати, які демонструють його можливості. У запропонованих варіантах методу, додатково до вимірювань повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) дефектних монокристалів, реалізовано роздільне вимірювання когерентної та дифузної компонент ПІВЗ та їх товщинних залежностей. Сепарування когерентної та дифузної компонент ПІВЗ забезпечило підвищення чутливості до структурних недосконалостей кристалічної гратки порівняно з методом товщинних залежностей ПІВЗ.

Відносно прості аналітичні формули, виведені для повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) монокристалів з випадково розподіленими дефектами у граничних випадках динамічної дифракції рентгенівських променів (наближення тонкого та товстого кристалів для симетричної геометрії дифракції Лауе та асиметричної - Брегга), застосовано для розробки нових (комбінованих) методів ПІВЗ з метою визначення параметрів дефектів. Вирази для ПІВЗ залежать в явному вигляді від статичного фактора Дебая - Валлера та двох коефіцієнтів поглинання завдяки дифузному розсіянню для когерентної та дифузної компонент ПІВЗ, до складу яких входять параметри дефектів та дифракційні параметри. Спільна обробка товщинних (у випадку Лауе) та/або азимутальних (у випадку Брегга) залежностей ПІВЗ, які вимірювались для різних довжин хвиль та/або рефлексів, підвищує чутливість та надійність методів ПІВЗ під час діагностики параметрів дефектів. Можливості комбінованих методів продемонстровано теоретично та експериментально для відпаленого монокристала кремнію.

Рассмотрены проблемы, возникающие при компьютерной обработке дифракционных спектров, полученных на стандартном оборудовании от наиболее "ходового" технического материала - поликристалла. Представлены оптимизационные алгоритмы компьютерного индуцирования, критерии достоверностей и предельные возможности метода.

У випадку симетричної Лауе-дифракції для кристалів зі згином параболічної форми, отримано систему диференціальних рівнянь, які описують міжгілкове розсіяння рентгенівських променів. Показано, що міжгілковий обмін можна розглядати як результат динамічної взаємодії ейкональних мод, які повністю визначають внутрішньогілкове розсіяння рентгенівських променів. Зроблено висновок про те, що міжгілкове розсіяння є значним тільки в області кристала, для якої суттєвим є багаторазове когерентне розсіяння рентгенівських променів. Особливості міжгілкового розсіяння рентгенівських променів досліджено також у випадку сильних деформацій, коли має місце кінематичний режим дифракції.

Узагальнені аналітичні вирази для повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) тонких монокристалів з мікродефектами одержано для випадку дифракції рентгенівських променів за Лауе. Виміряно енергетичні залежності ПІВЗ та сепаровані когерентної і дифузної компонент ПІВЗ з використанням набору характеристичних жорстких рентгенівських випромінювань. За результатами аналізу вимірювань визначено характеристики мікродефектів у термооброблених кристалах кремнію.

Ключ. слова: solid solution, short-range order, X-ray diffuse scattering, short-range order parameters
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 + К230.401

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Методи дослідження станів і структури кольорових металів і сплавів

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: nonstoichoimetry, x-ray diffraction, order-disorder transformation, reactive diffusion
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: трехволновая дифракция, эффект Бормана, одномерная деформация, аномальное прохождение рентгеновских лучей
Індекс рубрикатора НБУВ: В376.1 + В372.134

Рубрики:

Твердість. Пружність. Поширення звуку (пружних коливань) в монокристалах

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: рентген, ультразвук, дифракционный контраст, микродефекты, секционные топограммы, динамическое рассеяние, структурное совершенство кристаллов
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: рентгеновское излучение, когерентное рассеяние, изгиб
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: фактор поглощения излучения, дифрактометрия, плавленный кварц, монокристаллический сплав Ni - 11,8% ат.Mo.
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 + В378.21

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Структурний аналіз монокристалів металів

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Рассмотрены вопросы распространения волн рентгеновского диапазона в периодических структурах. Описаны кристаллические структуры с периодическим полем деформаций. Проанализированы общие закономерности рентгеновской дифракции в кристаллах со сверхпериодом. Раскрыты математические аспекты динамического рассеяния в сверхрешетках, освещена кинематическая теория дифракции в них. Изложена концепция единой параметризации в проблеме описания динамической дифракции в сверхрешетках. Изучены влияние градиента деформации между слоями сверхрешеток на динамические эффекты рентгеновской дифракции, особенности дифракции в кристаллах с переменным градиентом деформации.

Ключ. слова: залізо-ітрієвій гранат, іонна імплантація, ядерні та електронні енергетичні втрати, профіль відносної зміни міжплощинної відстані
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.6 + В372.134

Рубрики:

Тонкі шари твердих тіл

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Приведены основные сведения о дифракции рентгеновских лучей на кристаллах и применении методов структурного анализа для исследования остаточных макронапряжений в поверхностных слоях массивных материалов и тонких пленках. Изложены метод наклонных съемок и особенности его развития для изучения напряженного состояния в текстурированных и монокристаллических образцах. Освещены основные положения взаимодействия рентгеновских лучей с веществом, раскрыты основы электронографической тензометрии. Выполнен анализ ошибок при использовании рентгенодифрактометрических методик для измерения остаточных макронапряжений.

Розглянуто фізичні основи дифракційних методів дослідження структури кристалів. Описано природу виникнення та спектральні характеристики X-хвиль. В межах кінематичної теорії дифракції розглянуто розсіяння електроном, атомом, елементарною коміркою та кристалом. Проаналізовано розсіяня та поглинання X-хвиль з урахуванням впливу температури та дисперсії на інтенсивність дифракційних максимумів. Описано класичні експериментальні методи дослідження реальної структури кристалічних тіл. Проаналізовано особливості та недоліки кінематичної теорії дифракції.

Рассмотрены физические основы дифракционных методов исследования структуры кристаллов. Описаны природа возникновения и спектральные характеристики X-волн. В пределах кинематической теории дифракции рассмотрено рассеивание электроном, атомом, элементарной ячейкой и кристаллом. Проанализировано рассеивания и поглощения X-волн с учетом влияния температуры и дисперсии на интенсивность дифракционных максимумов. Описаны классические экспериментальные методы исследования реальной структуры кристаллических тел. Проанализированы особенности и недостатки кинематической теории дифракции.

Наведено результати структурного аналізу кристалічних речовин, проведеного за допомогою дифракції X-променів. Основну увагу приділено динамічній теорії дифракції в багатошаровых структурах. Описано найбільш важливі алгоритми розрахунку динамічної дифракції у випадку двох і більше сильних хвиль. Розглянуто застосування динамічної теорії для таких випадків: нерізкі межі між шарами, анізотропні спотворення структури, побудова карт оберненого простору. Проаналізовано поняття оберненего простору та його зв'язок з явищем дифракції. Розкрито проблеми визначення параметрів досліджуваної структури з експерименту.

Приведены результаты структурного анализа кристаллических веществ, проведенного при помощи дифракции X-лучей. Основное внимание уделено динамической теории дифракции в многослойных структурах. Описаны наиболее важные алгоритмы расчета динамической дифракции в случае двух и более сильных волн. Рассмотрены применения динамической теории для таких случаев: нерезкие границы между слоями, анизотропные искажения структуры, построение карт обратного простанства. Проанализированы понятие обратного пространства и его связь с явлением дифракции. Раскрыты проблемы определения параметров исследованной структуры из эксперимента.

Вивчено селективні властивості проміжного режиму дифракції поблизу бреггівського резонансу. Показано, що зі зменшенням частоти ультразвуку відбувається розширення відносної смуги частот, в межах якої виконуються умови бреггівського синхронізму. Встановлено, що в проміжному режимі, коли водночас присутні складові першого та другого порядків дифракції, існує такий режим акустооптичної взаємодії, за якого величина дифракційної ефективності складової першого порядку є мінімальною. Наведено результати експериментальних досліджень, які підтверджують ці положення.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14159 Пошук видання у каталогах НБУВ