Загальна кількість знайдених документів : 2 Представлено документи з 1 до 2
1.
Bowen D. K. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography [Електронний ресурс] / D. K. Bowen, B. K. Tanner. - London : Taylor & Francis, 1998. - 267 p.
2.
Structure determination from powder diffraction data [Електронний ресурс]. - Oxford : Oxford science publications, 2002. - 337 p.