![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Віртуальна довідка ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Тематичний інтернет-навігатор ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Наукова електронна бібліотека ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Формат представлення знайдених документів: | повний | стислий |
Пошуковий запит: (<.>U=Ж304-1 с$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
| | Тип видання: навчальний посібник | | |
1. |
|
Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Електронний ресурс] : пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2004. - 384 с.. - (Мир материалов и технологий)
Рубрики:
Повний текст доступний у читальних залах НБУВ
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Кл.слова: матеріалознавство -- мікроаналіз матеріалів
|
|
|