Розроблено математичну модель запам'ятовуючого пристрою та засобу діагностування у вигляді модернізованої машини Т'юрінга, що дозволяє скоротити трудомісткість синтезу програм тестів. Розроблено алгоритм і програму оптимізованої послідовності тестів для виконання діагностування пристроїв напівпровідникової пам'яті під час відомих апріорних даних про властивості діагностичних тестів, що дозволить скоротити тривалість діагностування. Розроблено метод вибору тестів за допомогою нечітких правил за алгоритмом Сугено, що дозволить скоротити трудомісткість діагностування запам'ятовуючих пристроїв за рахунок використання досвіду фахівців з технічної діагностики.

Вказано на відомі методи інтуїтивного опису алгоритмів, якими є віртуальні машини Т'юрінга, Поста, Колмогорова, Шонгаге, Ахо - Ульмана - Хопкрофта, а також алгоритми Маркова і Крініцкого та рекурсивні функції, засобами яких алгоритми описуються не формалізовано. Дефініцію розширеної алгебри алгоритмів надано за допомогою аксіоматичного методу. Алгебра базується на операціях секвентування, багатозначного елімінування, паралелення та реверсування, а також циклічного секвентування, циклічного елімінування та циклічного паралелення, які виконуються над унітермами. Розширення стосується введення операції багатозначного елімінування. Проілюстровано ефективність розширеної алгебри алгоритмів.