|
|
ІВ193460
Schmid, Dieter.
Oberflächen- Segregationsverhalten polykristalliner Chalkopyrit- Dünnschichten:Experimentelle Untersuchungen auf der Basis der Photoelektronenspektroskopie [Text] : Abh. / D. Schmid ; Universität Stuttgart. Fak. Elektrotechnik. - Stuttgart : [б.в.], 1996. - 101 S.:Abb. - Бібліогр.: S.97 - 101.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу:
Universität Stuttgart. Fak. Elektrotechnik
Видання зберігається у :
|
|