|
|
ІВ194939
Wanka, Harald.
Ellipsometrie und Rasterkraftmikroskopie- Untersuchung der Nukleation und des Wachstums vomn Si-Dünnschichten [Text] : Abh. / H. Wanka ; Universität Stuttgart. Fak. Elektrotechnik. - Stuttgart : [б.в.], 1997. - 148 S.: Abb. - Бібліогр.: S.: 134-146.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу:
Universität Stuttgart. Fak. Elektrotechnik
Видання зберігається у :
|
|