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ІВ200603
Yu, Xiaoying.
Untersuchungen zum Einfluß von mechanischem Stress auf die Migration in Metallisierungsstrukturen integrierter Schaltungen [Text] : Diss. / X. Yu ; Universität Hannover. Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik. - Hannover : [б.в.], 2000. - 91 S.: Bild. - Бібліогр.: S.87-91.
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Дод. точки доступу:
Universität Hannover. Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
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