|
|
MFI4087/1-2
Waldner, Stephan.
Quantitative strain analysis with image shearing speckie pattern interferometry (shearography) [Text] : diss. / S. Waldner ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 140 p.: fig. - (Diss ETH ; 13489).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу:
Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
|