|
|
ІВ211473
Emerging nanotechnologies [Text] : test, defect tolerance, and reliability / ed. M. Tehranipoor. - New York : Springer, 2008. - XII, 405 p.: fig. - (Frontiers in electronic testing ; 37). - Бібліогр.: v kintsi st.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу:
Tehranipoor, Mohammad (ed.)
Видання зберігається у :
|
|