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ІВ209889
Birkmann, Bernhard.
Züchtung und Charakterisierung von versetzungsarmen Silizium-dotierten GaAs-Substratkristallen [Text] : Diss. / B. Birkmann ; Technischen Fak. der Universität Erlangen-Nürnberg. - Erlangen-Nürnberg : [б.в.], 2002. - 167 S.: Abb. - Бібліогр.: S.154-164.
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Technischen Fak. der Universität Erlangen-Nürnberg
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