|
|
РА442110
Максименко, Зоя Василівна.
Резонансна рентгенівська дифрактометрія поблизу К-країв поглинання компонент при дослідженнях багатошарових структур [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Максименко Зоя Василівна ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - Київ, 2019. - 19 с. : рис., табл.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|