Пошуковий запит: (<.>U=В343.54$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
|
| 1. | Діагностика поверхні поляризованим світлом / Л. В. Поперенко [и др.] ; Київський національний ун-т ім. Тараса Шевченка. - К. : ВПЦ "Київський ун-т", 2007. - 336 с.: рис. (Шифр: ВА681784)
|
| 2. | Мішакова Т. О. Еліпсометрія напівпровідникових планарних наноструктур з урахуванням ефектів ближнього поля : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Мішакова Тетяна Олександрівна ; [Нац.] акад. наук України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - К., 2013. - 18 с. : рис., табл. (Шифр: РА398063)
|
| 3. | Коструба А. М. Еліпсометрія ультратонких плівкових структур : автореф. дис. ... д-ра фіз.-мат. наук : 01.04.05 / Коструба Андрій Михайлович ; Ін-т фіз. оптики ім. О. Г. Влоха. - Львів, 2016. - 32 с. : рис. (Шифр: РА424021)
|
| 4. | Одарич В. А. Прикладна фотометрична еліпсометрія / В. А. Одарич. - Київ : ПУЛЬСАРИ, 2017. - 413, [1] с. : рис., табл. (Шифр: ВА810826)
|
| 5. | Влох Р. О. Еліпсометрія ультратонких плівкових структур : монографія / Влох Р. О., Коструба А. М. ; Ін-т фіз. оптики ім. О. Г. Влоха. - Львів : Ін-т фіз. оптики ім. О. Г. Влоха, 2017. - 293 с. : рис., табл. (Шифр: ВА811651)
|
Книжкові видання
Розширений пошук