Пошуковий запит: (<.>U=В372.144$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 8
Представлено документи з 1 до 8
|
| 1. | Бондарчук О. Б. Тонка структура спектрів пружно відбитих електронів та визначення параметрів ближнього порядку неупорядкованих поверхонь твердих тіл : Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04 / Бондарчук Олександр Борисович ; Київський ун-т ім. Тараса Шевченка. - К., 1995. - 127 л. (Шифр: ДС47322)
|
| 2. | Телегин В. И. Интенсивность и угловое распределение электромагнитного излучения электронов при каналировании в толстых кристаллах : Автореф. дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.07 / Телегин Вячеслав Иванович ; Государственный комитет РФ по делам науки и Высшей школы, Кабардино-Балкарский гос. ун-т. - Нальчик, 1992. - 23 с. (Шифр: РА338531)
|
| 3. | Тугуз Ф. К. Процессы рассеяния заряженных частиц в твердых телах : Науч.-метод. изд. / Ф. К. Тугуз, М. Х. Хоконов ; Адыгейский гос. ун-т. Физический факультет. Кафедра теоретической физики. - Майкоп : [б.и.], 2001. - 31 с.: рис. (Шифр: Р92723)
|
| 4. | Гарабажів Я. Д. Формування картин Кікучі дифракції в синтезованих кристалах алмазу : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Гарабажів Ярослав Дмитрович ; Чернів. нац. ун-т ім. Ю. Федьковича. - Чернівці, 2010. - 20 с. : рис. (Шифр: РА376916)
|
| 5. | Гарабажів Я. Д. Формування картин Кікучі дифракції в синтезованих кристалах алмазу : дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Гарабажів Ярослав Дмитрович ; Чернів. нац. ун-т ім. Ю. Федьковича. - Чернівці, 2010. - 144, [3] арк. : рис., табл. (Шифр: ДС121069)
|
| 6. | Orientational dependence of high energy electron multiple scattering at small angles of incidence to crystal / A. R. Avakyan [a. o.]. - Yerevan : CNIIatominform, 1987. - 8 p.: fig. - (Prepr. / Yerevan physics institute ; 1024(74)-87) (Шифр: ІР7159)
|
| 7. | Dąbrowska-Szata M. Dyfrakcja odbiciowa elektronów o dużej energii w badaniach powierzchni ciała stałego / M. Dąbrowska-Szata. - Wrocław : Oficyna wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2000. - 161 s.: rys. (Шифр: ІВ197271)
|
| 8. | Методические указания к выполнению лабораторной работы "Определение индексов оси зоны кристаллических плоскостей" по курсу "Электронная микроскопия и электронография" для студентов физико-технического, механико-технологического и инженерно-физического факультетов / Нац. техн. ун-т "Харьк. политехн. ин-т" ; [сост.: А. Г. Багмут и др.]. - Х. : НТУ "ХПИ", 2011. - 28 с. : рис. (Шифр: Р118978)
|
Книжкові видання
