Пошуковий запит: (<.>U=В372.15,022$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 13
Представлено документи з 1 до 13
|
| 1. | Прядкин С. Л. Применение сканирующей туннельной микроскопии для изучения структуры поверхности проводящих твердых тел : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкин Сергей Леонидович ; НАН Украины, Ин-т металлофизики им. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 91 л. (Шифр: ДС59015)
|
| 2. | Боркач Є. І. Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол : Дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 148 л. (Шифр: ДС62397)
|
| 3. | Марченко А. А. Сканирующая туннельная микроскопия тонких пленок длинноцепочечных алифатических соединений : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; НАН Украины, Ин-т физики. - К., 1997. - 144 л.: рис. (Шифр: ДС53469)
|
| 4. | Марченко А. А. Сканирующая туннельная микроскопия органических молекул на интерфейсе жидкость-твердое тело : дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2007. - 368 л. (Шифр: ДС100329)
|
| 5. | Марченко О. А. Сканувальна тунельна мікроскопія органічних молекул на інтерфейсі рідина-тверде тіло : Автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Олександр Анатолійович ; Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України. - К., 2007. - 33 с. (Шифр: РА351267)
|
| 6. | Сліпченко М. І. Фізичні основи ближньопольової НВЧ діагностики матеріалів і середовищ : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Сліпченко Микола Іванович ; Сумський держ. ун-т. - Суми, 2008. - 36 с. (Шифр: РА362037)
|
| 7. | Прядкін С. Л. Використання скануючої тунельної мікроскопії для вивчення структури поверхні твердих тіл- провідників : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкін Сергій Леонідович ; НАН України, Ін-т металофізики ім. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 18 с. (Шифр: РА302214)
|
| 8. | Боркач Є. І. Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол : Автореф. дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 16 с. (Шифр: РА305401)
|
| 9. | Щеглов Д. В. Наноразмерная модификация поверхности полупроводников и металлов зондом атомно-силового микроскопа : Автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Щеглов Дмитрий Владимирович ; Ин-т физики полупроводников СО РАН. - Новосибирск, 2004. - 23 с.: рис. (Шифр: РА331442)
|
| 10. | Слипченко Н. И. Физические основы ближнеполевой СВЧ диагностики материалов и сред : дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / Слипченко Николай Иванович ; Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. - Х., 2008. - 351 л. : рис. (Шифр: ДС109378)
|
| 11. | Черепанов В. В. Дослідження надтонких органічних плівок методами зондової мікроскопії : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Володимирович ; Ін-т фізики НАН України. - К., 2010. - 24 с. : рис. (Шифр: РА377684)
|
| 12. | Черепанов В. В. Исследования сверхтонких органических плёнок методами зондовой микроскопии : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Владимирович ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2010. - 167 л. : рис. (Шифр: ДС122867)
|
| 13. | Eggert D. Application of nanoparticles in correlative super-resolution light and electron microscopy : diss. / Dennis Eggert ; Fak. für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften der Univ. Hamburg. - Hamburg, 2014. - 131 l. : fig. (Шифр: ІС14987)
|
Книжкові видання
