Пошуковий запит: (<.>U=Ж3-1 с$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 39
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
| 1. | Waldner S. Quantitative strain analysis with image shearing speckie pattern interferometry (shearography) : Diss. / S. Waldner ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 140 p.: fig. - (Diss ETH ; 13489) (Шифр: MFI4087/1-2)
|
| 2. | Schaus M. Temperaturwechselprüfung mit dem Nd-YAG-Laser an Metallen, Verbundwerkstoffen und Keramiken : Diss. / M. Schaus ; Ruhr-Universität Bochum. Fak. für Maschinenbau. - Bochum : [б.в.], 1997. - X, 295 S.: Abb. (Шифр: ІВ194107)
|
| 3. | Гірін О. Б. Аналіз та контроль матеріалів. Лабораторний практикум : [навч. посіб.] / О. Б. Гірін, В. І. Овчаренко, Є. В. Колесник ; Держ. ВНЗ "Укр. держ. хім.-технол. ун-т". - Дніпропетровськ : ДВНЗ УДХТУ, 2016. - 138 с. : рис., табл. (Шифр: ВА804937)
|
| 4. | Бланк А. Б. Аналитическая химия в исследовании и производстве неорганических функциональных материалов / А. Б. Бланк ; НАН Украины, НТК "Ин-т монокристаллов". - Х. : Институт монокристаллов, 2005. - 348 с.: рис., табл. - (Состояние и перспективы развития функциональных материалов для науки и техники) (Шифр: ВА668454)
|
| 5. | Кузьменко В. А. Звуковые и ультразвуковые колебания при динамических испытаниях материалов / В. А. Кузьменко ; АН УССР, Ин-т металлокерамики и спец. сплавов. - К. : Изд-во АН УССР, 1963. - 150 с. : рис., табл. (Шифр: Глушков В.М./ВА452)
|
| 6. | Гальченко В. Я. Информационные модели в теории и практике электромагнитной дефектоскопии / В. Я. Гальченко ; Восточноукраинский гос. ун-т. - Луганск : [б.в.], 1997. - 262 с. (Шифр: ВА577295)
|
| 7. | Мельник В. М. Кількісна стереомікрофрактографія : монографія / Володимир Мельник, Анна Шостак ; Волин. нац. ун-т ім. Лесі Українки. - Луцьк : Твердиня, 2010. - 460 с. : рис., табл. (Шифр: ВА732046)
|
| 8. | Бабак В. П. Методи підвищення розрізнювальної здатності ультразвукових систем неруйнівного контролю : Дис... д-ра технічний наук.: 05.11.13 / Бабак Віталій Павлович ; Національний технічний ун-т "Київський політехнічний ін-т". - К., 1995. - 363 с. (Шифр: ДС49273)
|
| 9. | Бабак В. П. Методи підвищення розрізнювальної здатності ультразвукових систем неруйнівного контролю : Автореф. дис...д-ра техн. наук: 05.11.13 / Бабак Віталій Павлович ; КПІ. - К., 1995. - 32 с. (Шифр: РА289036)
|
| 10. | Шматко О. О. Методи просторово-часової обробки спекл-інтерференційних сигналів та зображень для оцінок параметрів статистично нерівних поверхонь : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.17 / Шматко Олександр Олександрович ; Нац. аерокосм. ун-т ім. М. Є. Жуковського "Харків. авіац. ін-т". - Харків, 2015. - 20 с. : рис. (Шифр: РА416815)
|
| 11. | Методичні вказівки до розв'язання задач з курсу "Електронна мікроскопія", розділ "Інтерференційні зображення" для студентів спеціальності "Фізичне матеріалознавство" / уклад. В. М. Косевич [та ін.] ; Національний технічний ун-т "Харківський політехнічний ін-т". - Х. : НТУ "ХПІ", 2005. - 15 с. (Шифр: Р105563)
|
| 12. | Скальський В. Р. Методологічні основи діагностування елементів конструкцій поверхневими акустичними хвилями : [монографія] / В. Р. Скальський, О. М. Мокрий, І. М. Романишин ; НАН України, Фіз.-мех. ін-т ім. Г. В. Карпенка. - Львів : Простір-М, 2021. - 189 с. : рис. (Шифр: ВА861808)
|
| 13. | Кульментьев А. И. Методы анализа поверхности твердых тел : [учеб. пособие] / А. И. Кульментьев, О. П. Кульментьева ; Сумский гос. ун-т. - Сумы : Изд-во СумГУ, 2008. - 156 с. (Шифр: ВА713122)
|
| 14. | Козлова С. А. Методы анализа химических систем : Учеб. пособие / С. А. Козлова [и др.] ; Красноярская гос. академия цветных металлов и золота. - Красноярск : [б.и.], 2000. - 167 с.: рис. (Шифр: ВА633119)
|
| 15. | Гальченко В. Я. Методы оптимизации параметров и режимов работы вихретоковых преобразователей дефектоскопов : Дис... д-ра техн. наук: 05.11.13 / Гальченко Владимир Яковлевич ; Восточноукраинский гос. ун-т. - Луганск, 1998. - 290 л. (Шифр: ДС61099)
|
| 16. | Батаев В. А. Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : учеб. пособие по дисциплине "Физические методы исследования материалов" для студентов вузов, обучающихся по направлению подгот. бакалавров и магистров 150600 (551600) - "Материаловедение и технология новых материалов" и дипломир. специалистов по специальностям 150601 (071000) - "Материаловедение и технология новых материалов" и 150501 (120800) - "Материаловедение в машиностроении" / В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 220 с. : рис., табл. (Шифр: ВА746089)
|
| 17. | Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. С. Л. Баженов ; РАН, Институт синтетических полимерных материалов им. Н.С.Ениколопова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с.: рис. - (Мир материалов и технологий ; 6. 13) (Шифр: ВС47607)
|
| 18. | Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженов ; РАН, Институт синтетических полимерных материалов им. Н.С.Ениколопова. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с.: рис. - (Мир материалов и технологий ; 6-13) (Шифр: ВС44756)
|
| 19. | Любич А. И. Основы экспериментальных работ в материаловедении : учеб. пособие / А. И. Любич, А. Ф. Будник ; Сумский гос. ун-т. - Суми : [б.и.], 2007. - 178 с.: рис., табл. (Шифр: ВА687277)
|
| 20. | Лаврентьєв В. І. Пружні та непружні ефекти у металевих системах, далеких від рівноваги : Автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Лаврентьєв Василь Іванович ; Ін-т пробл. матеріалознавства ім. І. М. Францевича НАН України. - К., 1999. - 30 с.: іл. (Шифр: РА306922)
|
| | |
Книжкові видання
