Пошуковий запит: (<.>U=З852.3$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 170
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. | ІВ219472 Baldauf, Tim. Integration von Multi-Gate-Transistoren auf Basis einer 22 nm-Technologie [Text] : Diss. / Tim Baldauf ; Fak. Elektrotechnik und Informationstechnik der Techn. Univ. Dresden. - Dresden, 2014. - X, 187 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 173-184.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Technische Universität (Dresden). Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
2. | ІВ193268 Dilger, Markus. Herstellung und Charakterisierung von Einzelektronentransistoren [Text] : Diss. / M. Dilger ; Universität Stuttgart. Fak. Physik. - Stuttgart : [б.в.], 1996. - 199 S.:Abb. - Бібліогр.: s.191-199.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Universität Stuttgart. Fak. Physik
Видання зберігається у :
|
3. | ІВ198317 Frohna, Michael. Polykristalline CdSe-Dünnfilmtransistoren mit optimierten Eigenschaften und Technologie großflächiger ferroelektrischer Flüssigkristallanzeigen mit Foliensubstraten [Text] : Diss. / M. Frohna ; Universität Stuttgart. Fak. Elektrotechnik und Informationstechnik. - Zürich : [б.в.], 2000. - 123 S.: Abb. - Бібліогр.: S.119-123.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Universität Stuttgart. Fak. Elektrotechnik und Informationstechnik
Видання зберігається у :
|
4. | MFI2524/1-2 Herr, Egon. Gate oxide integrity of BiMOS power devices [Text] : diss. / E. Herr ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 1994. - 126 p.:fig. - (Diss. ETH ; 10678).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
5. | MFI1990/1-2 Herrmann, Martin Rudolf. Charge loss modelling for EPROMs with ONO Interpoly dielectric [Text] : diss. / M. R. Herrmann ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 1991. - 103 p.:ill. - (Diss ETH ; 10817).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
6. | MFI4561/1-4 Huber, Dieter. InP/InGaAs single hetero-junction bipolar for integrated photoreceivers at 40 Gb/s and beyond [Text] : diss. / D. Huber ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2002. - 213 p.: fig. - (ETH Diss ; 14504).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
7. | ІВ213887 Kaihovirta, Nikolai. Ion modulated organic transistors [Text] : diss. / Nikolai Kaihovirta ; Dep. of natural sciences Åbo Akad. Univ. [etc.]. - Åbo : Åbo Akad. Univ., 2010. - 98 p. : fig. - Рез. швец. - Бібліогр.: с. 49-57.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Åbo Akademi University. Department of natural sciences. Physics; FunMut, center for functional materials; Graduate school of materials research
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
8. | В276000/Cz. 1 Laboratorium układów elektronicznych [Text]. - Wrocław : Oficyna wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 1998 . Cz. 1 / red. A. Prałat. - 1998. - 227 s.: rys. - Бібліогр.: v kinci st.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Prałat, Andrzej (red.)
Видання зберігається у :
|
9. | ІС11858 Löken, Michael. Herstellung und Charakterisierung von ultraschnellen Photodetektoren [Text] : Diss. / M. Löken ; Universität zu Köln. Math.-Naturwiss. Fak. - Köln : [б.в.], 1999. - IV, 140 S.: Abb. - Бібліогр.: S.129-134.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Universität zu Köln. Math. -Naturwiss. Fak.
Видання зберігається у :
|
10. | ІВ195322 Maier, Gert. Technologie und Ansteuerung von Spatialen Flüssigkristall-Lichtmodulatoren mir amorphen Silizium-Dünnschichttransistoren [Text] : Diss. / G. Maier ; Universität Stuttgart. Fak. für Elektrotechnik. - Stuttgart : Institut für Netzwerk-und Systemtheorie der Univ. Stutt., 1998. - 126 S.: Abb. - Бібліогр.: S. 124-126.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Die Universität Stuttgart. Fak. für Elektrotechnik
Видання зберігається у :
|
11. | ІВ199021 Mietzner, Torsten-Karl-Rudolf. Elektronenverteilungen in kurzen n-Kanal Si-MOSFETs unter Berücksichtigung von Elektron-Elektron-Wechselwirkung [Text] : Diss. / T. Mietzner ; Universität zu Köln. Math.-Naturwiss. Fak. - Köln : [б.в.], 2001. - 124 S.: Abb. - Бібліогр.: S.119-124.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Universität zu Köln. Math. -Naturwiss. Fak.
Видання зберігається у :
|
12. | MFI5983/1-5 Palmero, Jose Miguel Ruiz. Physical IrP-based HBT models for ultimate digital [Text] : diss. / J. M. Palmero ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2006. - 295 p. - (ETH-Diss ; 16859).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
13. | MFI6266/1-2 Pernstich, Kurt Peter. The influence of trap states on charge transport in organic transistors [Text] : diss. / K. P. Pernstich ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2007. - 133 p. - (ETH-Diss ; 17245).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
14. | MFI2777/1-2 Riccobene, Concetta. Multidimensional analysis of galvanomagnetic effects in magnetotransistors [Text] : diss. / C. Riccobene ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 1995. - 186 p.:ill. - (Diss ETH ; 11077).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
15. | MFI4501/1-3 Rohner, Marcel. Physical limitations of InP/InGaAs1/3 heterojunction-bipolar transistors [Text] : diss. / M. Rohner ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2002. - 176 p.: fig. - (ETH-Diss ; 14508).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
16. | MFI2885/1-3 Ryter, Roland. Analysis and development of high voltage bipolar transistors for BiCMOS smart power applications [Text] : diss / R. Ryter ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 1996. - 211 p.:ill. - (Diss ETH ; 11446).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
17. | MFI3859/1-2 Scholze, Andreas. Simulation of single-electron devices [Text] : diss. / A. Scholze ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 161 p.: fig. - (Diss ETH ; 13526).
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
18. | ІВ229779 Schwarz, Maximiliam. Fabrication and Electrical Transport Properties of Silver Selenide Nanowire Field-Effect Transistors Obtained via Cation Exchange [Text] : diss. for the attaintment of the degree doctor rerum naturalium (Dr. rer. nat.) / Maximilian Schwarz ; Fakultät für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften, Institut für Physikalische Chemie, Universität Hamburg. - Hamburg : Dr. Hut, 2021. - XV, 173 p. : fig., tab. - Назва на корінці : Electrical Transport Properties of Silver Selenide Nanowire. - Бібліогр.: с. 137-157.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Die Universität Hamburg. Institut für Physikalische Chemie; Institut für Physikalische Chemie (Hamburg). Fakultät für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
19. | MFI3801/1-2 Schär-Sager, Adrian. Kritischer Vergleich unterschiedlicher MCT-Strukturen [Text] : Abh. / A. Schär-Sager ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1997. - 99 S.:Abb. - (Diss ETH ; 12310).
Дод. точки доступу: Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Видання зберігається у :
|
20. | ІВ219473 Teng, Lichao. Sub-100 nm channel length organic field effect transistor fabricated by wafer-scale nanoimprint lithography [Text] : Diss. / Lichao Teng ; Fak. Elektrotechnik und Informationstechnik der Techn. Univ. Dresden. - Dresden : TUDpress, 2014. - XV, 145 p. : fig. - Бібліогр.: с. 135-145.
Тематичний рубрикатор:
Дод. точки доступу: Technische Universität (Dresden). Fakultät Elektrotechnik und Informationstechnik
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| |