Комплексний пошук у каталогах Національної бібілотеки України імені В. І. Вернадського

	Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox"

Вид пошуку

Книжкові видання

Розширений пошук

Сортувати знайдені документи за:
автором	назвою	роком видання

Формат представлення знайдених документів:
повний	стислий

Пошуковий запит: (<.>U=В338.28 в641.8$<.>)

Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3

Р91698

Вебер, Владимир Леонгардович.

Наблюдение неоднородностей показателя рассеяния в стратифицированной среде методом отражательной конфокальной микроскопии [Текст] / В. Л. Вебер. - Нижний Новгород : [б.и.], 2000. - 16 с.: рис. - (Препринт / РАН, Институт прикладной физики ; №523).

Тематичний рубрикатор:

Числові методи < Електронні і іонні мікроскопи >

Дод. точки доступу:
РАН; Институт прикладной физики (Нижний Новгород)

Видання зберігається у :

РА375279

Задорожній, Роман Олександрович.

Методи та моделі підвищення точності вимірювання геометричних розмірів об'єктів зондовими мікроскопами [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.01.02 / Задорожній Роман Олександрович ; ННЦ "Ін-т метрології". - Х., 2010. - 20 с. : рис., табл.

Тематичний рубрикатор:

Вимірювання лінійних розмірів

Дисертації. Числові методи < Електронні і іонні мікроскопи >

Дод. точки доступу:
"Інститут метрології", національний науковий центр (Харків)

Видання зберігається у :
Основний фонд

ДС125225

Задорожній, Роман Олександрович.

Методи та моделі підвищення точності вимірювання геометричних розмірів об'єктів зондовими мікроскопами [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.01.02 / Задорожній Роман Олександрович ; Нац. авіац. ун-т. - К., 2010. - 138, [4] арк. : рис. - Бібліогр.: арк. 122-138.

Тематичний рубрикатор:

Вимірювання лінійних розмірів

Дисертації. Числові методи < Електронні і іонні мікроскопи >

Дод. точки доступу:
Національний авіаційний університет (Київ)

Видання зберігається у :
Основний фонд