Бази даних

Журнали та продовжувані видання - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Знайдено в інших каталогах:
Книжкові видання (311)
Журнали та продовжувані видання    Розширений пошук
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повний стислий
Пошуковий запит: (<.>U=В372.6$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 10
Представлено документи з 1 до 10
1.Galnander B.Uppsala University Acta Universitatis Upsaliensis. 2001, №622:Thin films and deposition processes studied by soft X-ray spectroscopy / B. Galnander. - Uppsala : [б.в.], 2001. - 80 p. (Acta Universitatis Upsaliensis Comprehensive summaries of Uppsala dissertations from the Faculty of science and technology, ISSN 1104-232X ; 2001, №622) (Шифр: Ж36641:SD/2001/622)
2.Kalska-Szostko B.Uppsala University Acta Universitatis Upsaliensis. 2000, №582:Mossbauer spectroscopy on selected magtetic compounds / B. Kalska-Szostko. - Uppsala : [б.в.], 2000. - 65 p.: ill. (Acta Universitatis Upsaliensis Comprehensive summaries of Uppsala dissertations from the Faculty of science and technology, ISSN 1104-232X ; 2000, №582) (Шифр: Ж36641:SD/2000/582)
3.Jonsson L.Uppsala University Acta Universitatis Upsaliensis. 1999, №445:Experimental and modeling of thin film processes / L. Jonsson. - Uppsala : [б.в.], 1999. - 47 p.: fig. (Acta Universitatis Upsaliensis Comprehensive summaries of Uppsala dissertations from the Faculty of science and technology, ISSN 1104-232X ; 1999, №445) (Шифр: Ж36641:SD/1999/445)
4.Veszelei M.Uppsala University Acta Universitatis Upsaliensis. 1997, №317:Preparation and characterization of sputtered metal oxides and nitrides for optical applications / M. Veszelei. - Uppsala : [б.в.], 1997. - 48 p.: ill. (Acta Universitatis Upsaliensis Comprehensive summaries of Uppsala dissertations from the Faculty of science and technology, ISSN 1104-232X ; 1997, №317) (Шифр: Ж36641:SD/1997/317)
5.Nyberg T.Uppsala University Acta Universitatis Upsaliensis. 1997, №329:Studies of the reactive sputtering process and CVD of diamond thin films / T. Nyberg. - Uppsala : [б.в.], 1997. - 43 p.: ill. (Acta Universitatis Upsaliensis Comprehensive summaries of Uppsala dissertations from the Faculty of science and technology, ISSN 1104-232X ; 1997, №329) (Шифр: Ж36641:SD/1997/329)
6.Windte C. V.Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz- Gemeinschaft Wissenschaftliche Berichte [Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz- Gemeinschaft. 1993, №5189:Kritische Ströme und Energiedissipation in Y1Ba2Cu3O7-m-Schichten / C. V. Windte. - Karlsruhe : [б.в.], 1993. - 78 S.: Abb. (Wissenschaftliche Berichte [Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz- Gemeinschaft, ISSN 0947-8620 ; 1993, №5189) (Шифр: Ж39507/1993/5189)
7.ul Haq A.Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz- Gemeinschaft Wissenschaftliche Berichte [Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz- Gemeinschaft. 1982, №3312:Ion induced properties of superconducting fhenium films / A. ul Haq. - Karlsruhe : [б.в.], 1982. - 65 p.:ill. (Wissenschaftliche Berichte [Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz- Gemeinschaft, ISSN 0947-8620 ; 1982, №3312) (Шифр: Ж39507/1982/3312)
8.Konrad M.Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz- Gemeinschaft Wissenschaftliche Berichte [Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz- Gemeinschaft. 1981, №3244:Einfluß der Präparationsparameter auf Fremdphasengehalt und Stromtragfähigkeit von Nb3Ge-Aufdampfschichten / M. Konrad. - Karlsruhe : [б.в.], 1981. - 75 S.: Abb. (Wissenschaftliche Berichte [Forschungszentrum Karlsruhe in der Helmholtz- Gemeinschaft, ISSN 0947-8620 ; 1981, №3244) (Шифр: Ж39507/1981/3244)
9.Berndt M.Forschungszentrum Dresden-Rossendorf Wissenschaftlich-Technische Berichte [FZD]. № 527:Phase separation in carbon:transition metal nanocomposite thin films / Markus Berndt. - Dresden : FZD, 2009. - 122 p. : il., tab. (Wissenschaftlich-Technische Berichte [HZDR], ISSN 2191-8708 ; № 527) (Шифр: Ж42214/2009/527)
10.Preprint. 2000, 128:Optical characterization of sputtered hydrogenated amorphous silicon thin films / K. Melassi [etc.]. - Miramare - Trieste : ICTP, 2000. - 17 p. (Preprint ; 2000, 128) (Шифр: IAEA:IC/2000/128)
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського