Применение сканирующей туннельной микроскопии для изучения структуры поверхности проводящих твердых тел : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкин Сергей Леонидович ; НАН Украины, Ин-т металлофизики им. Г. В. Курдюмова. - К., 1998.. - 91 л.. - Библиогр.: л. 88-91. ------------ Дод. точки доступу: Национальная академия наук Украины; Институт металлофизики имени Г. В. Курдюмова (Киев)