Пошуковий запит: (<.>K=ИНТЕРПОЛЯЦИ$<.>+<.>K=ФИЗИЧЕСК$<.>+<.>K=ПОЛЕ$<.>+<.>K=ВАРИАЦИОНН$<.>+<.>K=МЕТОД$<.>+<.>K=ИСЧИСЛЕНИ$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 72
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
| 1. |
Белецкий , А. И.
Физические процессы в тонкопленочных электролюминесцентных структурах с собственной памятью : диссертация канд.физ.-мат.наук / А. И. Белецкий , А. И. Белецкий ; (Киев). - Киев, 1994. - 157 с. - Бібліогр.: (назв.45)с.153-157
Дод. точки доступу:
Белецкий, Андрей Иванович; (Киев)
|
| 2. |
Головина, И. С.
Исследование примесных дефектов в сегнетоэлектриках методами радиоспектроскопии и диэлектрических измерений : канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / И. С. Головина ; (Киев). - киев, 1995. - 155 с. - Бібліогр.: назв.(147)с.141-155
Дод. точки доступу:
(Киев)
|
| 3. |
Соловьв, Евгений Александрович.
Модуляционные методы диагностики свч приборов и их аппаратурная реализация : диссертация канд.тех.наук:05.27.01. / Е. А. Соловьв ; (Киев). - киев, 1996. - 131 с. - Бібліогр.: назв.(78)с.122-131
Дод. точки доступу:
(Киев)
|
| 4. |
Литвин, Петр Марьянович.
Перебудова дефектноі структури монокристалів та епітаксійних систем на основі GaAs під впливом зовнішніх збуджень, виявлена рентгенодифракційними методами : дисертація канд.фіз.-мат.наук: 01.04.07 / П. М. Литвин ; (Киев). - КиЇв, 1997. - 147 с. - Бібліогр.: назв.(147)с.127-147
Дод. точки доступу:
(Киев)
|
| 5. |
Митус, Володимир Анатолійович.
Дослідження оптичних властивостей тонкоплівкових структур на основі елементів IV групи еліпсометричними методами : дисертація канд.фіз.-мат.наук: 01.04.07. / В. А. Митус ; (Киiв). - Київ, 1997. - 134 с. - Бібліогр.: назв.(116)с.119-134
Дод. точки доступу:
(Киiв)
|
| 6. |
Котов, Михайло Миколайович.
Дифракційні методи дослідження оптичного хвильового фронту : автореф.дисертації канд.фіз.-мт.наук: / М. М. Котов ; (КиЇв). - Київ, 2016. - 20 с.
Дод. точки доступу:
(КиЇв)
|
| 7. |
Дорожинський , Гліб Вячеславовия.
Розробка конструкторськ-технологічних методів підвищення точності вимрювання та чутливості приладів на основі явища поверхневого плазмонного резонансу : автореф.дис.канд.техн.наук:05.27.06 / Г. В. Дорожинський ; (Київ), 2016. - 20 с.
Дод. точки доступу:
(Київ)
|
| 8. |
Дощенко, Галина Геннадиевна.
Модификация структуры и свойств меднофосфатных стекол в поле электромагнитного излучения : диссертация канд.техн.наук:05.27.06 / Г. Г. Дощенко ; (Киев). - Киев, 1999. - 155 с.
Дод. точки доступу:
(Киев)
|
| 9. |
Ренгевич, Алексей Евгениевич.
Влияние y-радиации и СВЧ излучений на параметры GaAs полевых транзисторов с барьером Шоттки : дис...канд.техн.наук:05.27.06 / А. Е. Ренгевич ; (Киев). - Киев, 2001. - 157 с. - Бібліогр.: назв.(127)с.119-134
Дод. точки доступу:
(Киев)
|
| 10. |
Шварц , Юрий Михайлович.
Физические основы полупроводниковых приборов экстремальной электроники : дисс...докт.физ.-мат.наук:01.04.10. / Ю. М. Шварц ; (Киев). - Киев, 2004. - 310 с. - Бібліогр.: назв.(273) с. 280 -309
Дод. точки доступу:
(Киев)
|
| 11. |
Калабухова, Екатерина Николаевна.
Физические свойства парамагнитных примесных и дефектных центров в политипах карбида кремния : дис...докт.физ.-мат .наук:01.04.10 / Е. Н. Калабухова ; (Киев). - Киев, 2005. - 302 с. - Бібліогр.: назв.(173)с.287-303
Дод. точки доступу:
(Киев)
|
| 12. |
Свеженцова, Катерина Віталіївна.
Особливості формувння та властивості нанокристалічного кремнію, сформованого методом хімічного травлення : дис...канд.фіз.-мат.наук:01.04.07 / К. В. Свеженцова ; (Київ). - Київ, 2006. - 184 с. - Бібліогр.: назв.(210 )с.163-184
Дод. точки доступу:
(Київ)
|
| 13. |
Рощина, Ніна Миколаївна.
Розробка фізико-хімічного методу одержання характеристик світловипромінюючих структур А2В6 : дис...канд.техн.наук:05.27.06 / Н. М. Рощина ; (Київ). - Київ : [б. и.], 2008. - 160 с. - Бібліогр.: назв.(108)с.144-160. - Б. ц.
Дод. точки доступу:
(Київ)
|
| 14. |
Хацевич, Ігор Мирославович.
Фізичні властивості світловипрмінюючих структур з кремнієвими нанокластерами, отриманих методом іонно-стимульованого синтнезу : дис...канд.фіз.-мат.наук:01.04.07 / І. М. Хацевич ; (Київ). - Київ : [б. и.], 2009. - 178 с. - Бібліогр.: назв.(202) с.155-169. - Б. ц.
Дод. точки доступу:
(Київ)
|
| 15. |
Попович , Володимир Дмитрович.
Вплив легування хлором на фізичні властивості монокристалів телуриду кадмію, вирощених методом сублімації : дис...канд.фіз.-мат.наук:01.04.07 / В. Д. Попович ; (Київ). - Київ, 2010. - 190 с. - Бібліогр.: назв.(376)с.158-190
Дод. точки доступу:
(Київ)
|
| 16. |
Романець, Петро Миколаєвич.
Нерівноважні процеси у напівпровідникових структурах та графені, обумовлені фотозбудженням або розігрівом носіїв електричним полем : дис...канд.фіз.-мат.наук:01.04.10 / П. М. Романець ; (Київ). - Київ, 2011. - 147 с. - Бібліогр.: назв.(224)с.123-147
Дод. точки доступу:
(Київ)
|
| 17. |
Русавський, Андрій Вадимович.
Структурні, оптичні та механічні властивості тонких плівок a-Si1-xCx(:H) отриманих методом магнетронного розпилення : дис...канд.фіз.-мат.наук:01.04.07 / А. В. Русавський ; (Київ). - Київ, 2015. - 166 с. - Бібліогр.: назв.(125)с.150-166
Дод. точки доступу:
(Київ)
|
| 18. |
Дорожинський , Гліб Вячеславович.
Розробка конструкторсько-технологічних методів підвищення точності вимірювання та чутливості приладів на основі явища поверхневого плазмонного резонансу : дис...канд.техн.наук:05.27.06 / Г. В. Дорожинський ; (Київ). - Київ, 2016. - 150 с. - Бібліогр.: назв.(203)с.1127-148
Дод. точки доступу:
(Київ)
|
| 19. |
Дорожинський, Гліб Вячеславович.
Розробка конструкторсько-технологічних методів підвищення точності вимірювання та чутливості приладів на основі явища поверхневого плазмонного резонансу : автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.27.06 / Автореф.дис...канд.техн.наук:05.27.06 ; (Київ). - Київ, 2016. - 20 с.
Дод. точки доступу:
(Київ)
|
| 20. |
Шифр: Ж009 () Журнал физической химии . - Москва : [б. и.]. - Выходит ежемесячно
Зарегистрированы поступления:
(книгосховище) 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68; 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 |
| | |
|
|
Простий
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
