Пошуковий запит: (<.>K=КОМПЛЕКСН$<.>+<.>K=АНАЛИЗ$<.>+<.>K=АНАЛИТИЧЕСК$<.>+<.>K=МНОЖЕСТВ$<.>+<.>K=ГОЛОМОРФН$<.>+<.>K=ОТОБРАЖЕНИ$<.>+<.>K=СУПЕРСИММЕТРИ$<.>+<.>K=КОМПЛЕКСН$<.>+<.>K=ГЕОМЕТРИ$<.>+<.>K=МНОГОМЕРН$<.>+<.>K=ВЫЧЕТ$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 4
Представлено документи з 1 до 4
|
1. | Журнал аналитической химии
|
2. | Анализ поверхности методами оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : монография. - Москва : Мир, 1987. - 600 с.
|
3. | Закієв В.І. Прилад безконтактного вимірювання геометричних параметрів поверхні виробів методом інтерферометрії : автореф.дис...канд.техн.наук:05.11.01 / В. І. Закієв ; Міністерство освіти і науки України Національний авіаційний університет. - Київ, 2019. - 20 с.
|
4. | Задніпровський Ю.О. Фізико-технологічні основи комплексного вакуумно-дугового модифікування поверхонь деталей систем паророзподілу турбін : автореф.дисс...канд.техн.наук:01.04.07 / Ю. О. Задніпровський ; НАНУ Інститут електрофізики і радіаційних технологій. - Харків, 2020. - 24 с.
|