Реєстрація
Користувач
Пароль
 

Каталоги бібліотек установ Національної академії наук України

Бази даних


Інститут фізики напівпровідників - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
 Знайдено в інших БД:Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського (12619)Інститут археології (23)Інститут біоорганічної хімії та нафтохімії (79)Інститут біохімії імені О. В. Палладіна (253)Інститут ботаніки
імені М. Г. Холодного (1)
Інститут гідробіології (658)Інститут географії (569)Інститут економіки та прогнозування (910)Інститут електродинаміки (1858)Інститут зоології (817)Інститут історії України (17)Інститут клітинної біології та генетичної інженерії (47)Інститут літератури імені Т. Г. Шевченка (20)Інститут математики (3095)Інститут проблем кріобіології і кріомедицини (10)Інститут проблем міцності
імені Г. С. Писаренка (417)
Інститут сходознавства імені А. Ю. Кримського (15)Інститут теоретичної фізики імені М. М. Боголюбова (1400)Інститут технічної теплофізики (63)Інститут фізики (17)Інститут фізіології імені О. О. Богомольця (205)Інститут філософії (69)Інституту соціології (658)
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
Пошуковий запит: (<.>K=КОМПЛЕКСН$<.>+<.>K=АНАЛИЗ$<.>+<.>K=АНАЛИТИЧЕСК$<.>+<.>K=МНОЖЕСТВ$<.>+<.>K=ГОЛОМОРФН$<.>+<.>K=ОТОБРАЖЕНИ$<.>+<.>K=СУПЕРСИММЕТРИ$<.>+<.>K=КОМПЛЕКСН$<.>+<.>K=ГЕОМЕТРИ$<.>+<.>K=МНОГОМЕРН$<.>+<.>K=ВЫЧЕТ$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 4
Представлено документи з 1 до 4
1.
Шифр: Ж001 ()
Журнал аналитической химии . - Москва : Наука. - Выходит ежемесячно. - ISSN 0044-4502
Зарегистрированы поступления:
2.


Анализ поверхности методами оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : монография. - Москва : Мир, 1987. - 600 с. - Библиогр. в конце разд. - 6рублей 40коп. р.

Дод. точки доступу:
Бриггс, Д.; Сих, М.П.
3.

Закієв, Вадим Ісламович.
Прилад безконтактного вимірювання геометричних параметрів поверхні виробів методом інтерферометрії : автореф.дис...канд.техн.наук:05.11.01 / В. І. Закієв ; Міністерство освіти і науки України Національний авіаційний університет. - Київ, 2019. - 20 с.
4.

Задніпровський , Юрій Олексійович.
Фізико-технологічні основи комплексного вакуумно-дугового модифікування поверхонь деталей систем паророзподілу турбін : автореф.дисс...канд.техн.наук:01.04.07 / Ю. О. Задніпровський ; НАНУ Інститут електрофізики і радіаційних технологій. - Харків, 2020. - 24 с.
 
Інститут фізики напівпровідників

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського