1. | > Шифр: Ж001 () Журнал аналитической химии . - Москва : Наука. - Выходит ежемесячно. - ISSN 0044-4502 Зарегистрированы поступления:
(книгосховище) 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44; 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 |
2. |
Анализ поверхности методами оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : монография. - Москва : Мир, 1987. - 600 с. - Библиогр. в конце разд. - 6рублей 40коп. р.
Дод. точки доступу: Бриггс, Д.; Сих, М.П.
| 3. |
Закієв, Вадим Ісламович. Прилад безконтактного вимірювання геометричних параметрів поверхні виробів методом інтерферометрії : автореф.дис...канд.техн.наук:05.11.01 / В. І. Закієв ; Міністерство освіти і науки України Національний авіаційний університет. - Київ, 2019. - 20 с.
| 4. |
Задніпровський , Юрій Олексійович. Фізико-технологічні основи комплексного вакуумно-дугового модифікування поверхонь деталей систем паророзподілу турбін : автореф.дисс...канд.техн.наук:01.04.07 / Ю. О. Задніпровський ; НАНУ Інститут електрофізики і радіаційних технологій. - Харків, 2020. - 24 с.
|
|
|