|
РА375779 Струк, Андрій Ярославович. Особливості формування дифракційного контрасту дислокацій та їх комплексів в кристалах Si у секційній та проекційній X-променевій топографії [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Струк Андрій Ярославович ; Чернів. нац. ун-т ім. Ю. Федьковича. - Чернівці, 2010. - 20 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|