|
|
ІР8266
Dąbrowski, Władysław.
Effects of deep imperfection levels on the capacitance of semiconductor detectors [Text] / Władysław Dąbrowski, Kazimierz Korbel. - Kraków : Inst. fizyki i techniki jądrowej AGH, 1988. - 29 p. : fig. - (Raport INT / Instytut fizyki i techniki jądrowej AGH, ISSN 0302-9034 ; 227/E). - На тит. арк. назва парал. англ., пол., рос. - Рез.: англ., пол., рос. - Текст англ. - Бібліогр.: с. 29. - 169 прим.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Korbel, Kazimierz
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|