ІВ192771
IEEE International workshop on memory testing (1993 ; San Jose).
Records of the 1993 IEEE International workshop on memory testing, August 9-10, 1993, San Jose, California [Text] / ed. R. Raisuman ; IEEE computer soc., Technical comm. on test technology. - Los Alamitos, California[etc.] : IEEE computer soc. press, 1993. - IX, 143 p.: fig. - ISBN 0-8186-4150-9

Рубрикатор НБУВ:
Тематичні рубрики:

Географічні рубрики:


Дод. точки доступу:
Raisuman, R. (ed.); IEEE computer soc. Technical comm. on test technology

Видання зберігається у :