|
ІВ192771 IEEE International workshop on memory testing (1993 ; San Jose). Records of the 1993 IEEE International workshop on memory testing, August 9-10, 1993, San Jose, California [Text] / ed. R. Raisuman ; IEEE computer soc., Technical comm. on test technology. - Los Alamitos, California[etc.] : IEEE computer soc. press, 1993. - IX, 143 p.: fig. - ISBN 0-8186-4150-9Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Географічні рубрики:
Дод. точки доступу: Raisuman, R. (ed.); IEEE computer soc. Technical comm. on test technology
Видання зберігається у :
|
|