|
MFI2958/1-2 Reiner, Joachim. Latent gate oxide damage induced by ultra-fast electrostatic discharge [Text] : diss. / J. Reiner ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 1995. - 175 p.: fig. - (Diss. ETH ; 11212) 2 mfisheРубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Swiss Federal institute of technology Zürich
Видання зберігається у :
|
|