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ІВ201159 Wegner, Michael. Konfokale Mikroskopie zur Topografiebestimmung technischer Oberflächen [Text] : Diss. / M. Wegner ; Universität Stuttgart. Fak. für Konstruktions- und Fertigungstechnik. - Stuttgart : [б.в.], 2002. - 163 S.: Abb. - (Berichte / Universität Stuttgart. Institut für Technische Optik ; 44). - Бібліогр.: S.146150Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
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