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ІС14359
Bastek, Barbara.
Untersuchung der mikroskopisch optischen Eigenschaften von strukturellen Defekten in GaN-Epitaxie-chichten mittels Tieftemperatur Kathodolumineszenzmikroskopie im Rasterelektronen- und Transmissionselektronenmikroskop [Text] : Diss. / Barbara Bastek ; Fak. für Naturwissenschaften der Otto-von-Guericke-Univ. Magdeburg. - Magdeburg : [s. n.], 2011. - X, 173 S. : Abb. - Бібліогр.: с. 145-155Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
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Otto-von-Guericke-Universität (Magdeburg). Fakultät für Naturwissenschaften
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