|
|
СТ7534
ДСТУ ГОСТ 8.593:2014
Метрологія. Мікроскопи сканувальні зондові атомно-силові. Методика повірки (ГОСТ 8.593-2009, IDT) [Текст]. - Чинний від 2014-11-01. - Київ : Мінекономрозвитку України, 2015. - III, III, 6 с. : рис. - (Національний стандарт України). - Текст рос.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Географічні рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
|