РА290191
Ярошевич, Александр Сергеевич.
Исследование электронных свойств дельта- легированных арсенид- галлиевых структур методами фотоэлектрической спектроскопии [Текст] : автореф. дис...канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Ярошевич Александр Сергеевич ; РАН СО, Ин-т физики полупроводников. - Новосибирск, 1995. - 19 с.

Рубрикатор НБУВ:
Тематичні рубрики:


Дод. точки доступу:
Российская академия наук. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников (Новосибирск)

Видання зберігається у :
Основний фонд