 Кулик, В. С. Рубрикатор НБУВ: Шифр журнала: Анотація: З попередніх досліджень відомо, що при малих емісійних струмах рідкометалеві джерела іонів (РМДІ) працюють нестабільно і емісія має імпульсний характер. У роботі вивчено кутові і енергетичні розподіли іонів Ga, GaIn; GaInCu, GaInSn, GaInAg, Li РМДІ для області струмів близьких до мінімально можливих (I режим роботи джерела) та більших струмів стабільної роботи джерела (II режим роботи). Встановлено, що в I режимі кут конуса емісії залишається практично незмінним, а енергорозкид іонів зростає із зменшенням емісійного струму. Перехід від I до II режиму роботи джерела відбувається стрибкоподібно при певному для кожного джерела критичному емісійному струмі і має оборотний характер щодо величин емісійного струму і кута конуса емісії. Для сплавних джерел у I режимі роботи іонні струми компоненти, яка сегрегує на поверхні сплаву, є більшими, ніж вони повинні бути згідно з елементним складом сплаву. !oprip481_H.pft: FILE NOT FOUND! Дод. точки доступу: Медведєв, В. К. Видання зберігається у : |